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1. WO2008003796 - PROCÉDÉ D'UTILISATION D'UN MICROSCOPE À FORCES ATOMIQUES

Numéro de publication WO/2008/003796
Date de publication 10.01.2008
N° de la demande internationale PCT/ES2006/070096
Date du dépôt international 04.07.2006
CIB
G01Q 60/32 2010.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
QTECHNIQUES OU APPAREILS À SONDE À BALAYAGE; APPLICATIONS DES TECHNIQUES DE SONDE À BALAYAGE, p.ex. MICROSCOPIE À SONDE À BALAYAGE
60Types particuliers de microscopie à sonde à balayage SPM ou appareils à cet effet; Composants essentiels de ceux-ci
24Microscopie à forces atomiques AFM ou appareils à cet effet, p.ex. sondes AFM
32Mode vibrant
G01Q 30/04 2010.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
QTECHNIQUES OU APPAREILS À SONDE À BALAYAGE; APPLICATIONS DES TECHNIQUES DE SONDE À BALAYAGE, p.ex. MICROSCOPIE À SONDE À BALAYAGE
30Moyens auxiliaires destinés à assister ou améliorer les techniques ou les appareils à sonde à balayage, p.ex. dispositifs d’affichage ou de traitement de données
04Dispositifs d'affichage ou de traitement de données
CPC
G01Q 30/04
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
QSCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
30Auxiliary means serving to assist or improve the scanning probe techniques or apparatus, e.g. display or data processing devices
04Display or data processing devices
G01Q 60/34
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
QSCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
60Particular types of SPM [Scanning Probe Microscopy] or microscopes; Essential components thereof
24AFM [Atomic Force Microscopy] or apparatus therefor, e.g. AFM probes
32AC mode
34Tapping mode
Déposants
  • CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGACIONES CIENTÍFICAS [ES]/[ES] (AllExceptUS)
  • GARCIA GARCIA, Ricardo [ES]/[ES] (UsOnly)
  • RODRÍGUEZ LOZANO, José Luis [ES]/[ES] (UsOnly)
  • MARTÍNEZ CUADRADO, Nicolás F. [ES]/[ES] (UsOnly)
  • PATIL, Shivaprasad Vitthal [IN]/[ES] (UsOnly)
Inventeurs
  • GARCIA GARCIA, Ricardo
  • RODRÍGUEZ LOZANO, José Luis
  • MARTÍNEZ CUADRADO, Nicolás F.
  • PATIL, Shivaprasad Vitthal
Données relatives à la priorité
Langue de publication espagnol (ES)
Langue de dépôt espagnol (ES)
États désignés
Titre
(EN) METHOD FOR USING AN ATOMIC FORCE MICROSCOPE
(ES) MÉTODO DE UTILIZACIÓN DE UN MICROSCOPIO DE FUERZAS ATÓMICAS
(FR) PROCÉDÉ D'UTILISATION D'UN MICROSCOPE À FORCES ATOMIQUES
Abrégé
(EN)
The invention relates to a method for using an atomic force microscope. The method consists of: exciting lower and upper natural vibration modes of a microlever (M) disposed on a sample; and analysing the variation in a variable of a first output signal (Aicos(ωit-&phis;i)) representative of the response of the microlever (M) to excitation of the lower mode with respect to the variation in a parameter influenced by a variable of a second output signal (Ajcos(ωjt-&phis;j)) representative of the response of the microlever (M) to the excitation of the upper mode, and/or analysing the variation in a variable of a second output signal (Ajcos(ωjt-&phis;j)) representative of the response of the microlever (M) to the excitation of the upper mode with respect to the variation in a parameter influenced by a variable in a first output signal (Aicos(ωit-&phis;i)) representative of the response of the microlever (M) to the excitation of the lower mode.
(ES)
Comprende excitar unos modos inferior y superior naturales de vibración de una micropalanca (M) dispuesta sobre una muestra, y: - analizar Ia variación de una variable de una primera señal de salida (Aicos(ωit-ϕi)) representativa de Ia respuesta de Ia micropalanca (M) a dicha excitación del modo inferior, respecto a Ia variación de un parámetro influido por una variable de una segunda señal de salida (Ajcos(ωjt-ϕj)) representativa de Ia respuesta de Ia micropalanca (M) a Ia excitación del modo superior, y/o - analizar Ia variación de una variable de una segunda señal de salida (Ajcos(ωjt-ϕj)) representativa de Ia respuesta de Ia micropalanca (M) a Ia excitación del modo superior, respecto a Ia variación de un parámetro influido por una variable de una primera señal de salida (Aicos(ωit-ϕi)) representativa de Ia respuesta de Ia micropalanca (M) a Ia excitación del modo inferior.
(FR)
L'invention concerne un procédé d'utilisation d'un microscope à forces atomiques. Ce procédé consiste à exciter des modes inférieur et supérieur naturels de vibration d'un microlevier (M) disposé sur un échantillon; et à analyser Ia variation d'une variable d'un premier signal de sortie (Aicos(ωit-ϕi)) représentant Ia réponse du microlevier (M) à l'excitation du mode inférieur, par rapport à la variation d'un paramètre influencé par une variable d'un deuxième signal de sortie (Ajcos(ωjt-ϕj)) représentant Ia réponse du microlevier (M) à l'excitation du mode supérieur; et/ou à analyser la variation d'une variable d'un deuxième signal de sortie (Ajcos(ωjt-ϕj)) représentant Ia réponse du microlevier (M) à l'excitation du mode supérieur, par rapport à la variation d'un paramètre influencé par une variable d'un premier signal de sortie (Aicos(ωit-ϕi)) représentant Ia réponse du microlevier (M) à l'excitation du mode inférieur.
Également publié en tant que
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