Traitement en cours

Veuillez attendre...

PATENTSCOPE sera indisponible durant quelques heures pour des raisons de maintenance le dimanche 05.04.2020 à 10:00 AM CEST
Paramétrages

Paramétrages

1. WO2007149534 - PROCÉDÉS D'INGÉNIERIE DE POLARISATION ET LEURS APPLICATIONS

Numéro de publication WO/2007/149534
Date de publication 27.12.2007
N° de la demande internationale PCT/US2007/014480
Date du dépôt international 21.06.2007
CIB
G01N 21/65 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
62Systèmes dans lesquels le matériau analysé est excité de façon à ce qu'il émette de la lumière ou qu'il produise un changement de la longueur d'onde de la lumière incidente
63excité optiquement
65Diffusion de Raman
G01Q 30/02 2010.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
QTECHNIQUES OU APPAREILS À SONDE À BALAYAGE; APPLICATIONS DES TECHNIQUES DE SONDE À BALAYAGE, p.ex. MICROSCOPIE À SONDE À BALAYAGE
30Moyens auxiliaires destinés à assister ou améliorer les techniques ou les appareils à sonde à balayage, p.ex. dispositifs d’affichage ou de traitement de données
02Dispositifs d'analyse d’un type autre que la microscopie à sonde à balayage SPM, p.ex. microscope électronique à balayage SEM , spectromètre ou microscope optique
G01Q 60/22 2010.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
QTECHNIQUES OU APPAREILS À SONDE À BALAYAGE; APPLICATIONS DES TECHNIQUES DE SONDE À BALAYAGE, p.ex. MICROSCOPIE À SONDE À BALAYAGE
60Types particuliers de microscopie à sonde à balayage SPM ou appareils à cet effet; Composants essentiels de ceux-ci
18Microscopie optique à champ proche à balayage SNOM ou appareils à cet effet, p.ex. sondes SNOM
22Sondes, leur fabrication ou leur instrumentation correspondante, p.ex. supports
G02B 27/56 2006.01
GPHYSIQUE
02OPTIQUE
BÉLÉMENTS, SYSTÈMES OU APPAREILS OPTIQUES
27Systèmes ou appareils optiques non prévus dans aucun des groupes G02B1/-G02B26/117
56Optique utilisant des ondes évanescentes, c. à d. ondes non homogènes
CPC
G01J 3/02
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED, VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
3Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
02Details
G01J 3/0224
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED, VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
3Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
02Details
0205Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows
0224using polarising or depolarising elements
G01J 3/10
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED, VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
3Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
02Details
10Arrangements of light sources specially adapted for spectrometry or colorimetry
G01J 3/44
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED, VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
3Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
28Investigating the spectrum
44Raman spectrometry; Scattering spectrometry ; ; Fluorescence spectrometry
G01N 2021/656
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible or ultra-violet light
62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
63optically excited
65Raman scattering
653Coherent methods [CARS]
656Raman microprobe
G01N 21/658
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible or ultra-violet light
62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
63optically excited
65Raman scattering
658enhancement Raman, e.g. surface plasmons
Déposants
  • UNIVERSITY OF DAYTON [US/US]; 300 College Park Dayton, OH 45469-0101, US (AllExceptUS)
  • ZHAN, Qiwen [CN/US]; US (UsOnly)
Inventeurs
  • ZHAN, Qiwen; US
Mandataires
  • SWANSON, Kristina, E. ; Dinsmore & Shohl LLP One Dayton Centre, Suite 1300 One South Main Street Dayton, OH 45402-2023, US
Données relatives à la priorité
60/805,37021.06.2006US
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) METHODS OF POLARIZATION ENGINEERING AND THEIR APPLICATIONS
(FR) PROCÉDÉS D'INGÉNIERIE DE POLARISATION ET LEURS APPLICATIONS
Abrégé
(EN)
Special polarization states are generated that have unique focusing properties that may be used to create extremely strong longitudinal fields. Combined with surface plasmon excitation, these polarization states can be used in apertureless near-field scanning optical microscopy systems. A radially polarized beam is directed into a plasmon-generating optical fiber comprising a metal coated, tapered, apertureless tip. The apertureless tip excites surface plasmon waves and direct the surface plasmon waves to the tip when a radially polarized beam propagates along the plasmon-generating optical fiber. An objective lens collects the near field optical signals from a sample positioned adjacent to the apertureless. Potential spatial resolution of the apertureless NSOM could reach beyond 10 nm. Such strong field enhancement allows the development of a reliable nano-Raman system that can measure mechanical as well as chemical compositions of samples with resolution beyond 10 nm.
(FR)
L'invention concerne la génération d'états de polarisation spéciaux qui présentent des propriétés de focalisation uniques et qui peuvent être employés pour créer des champs longitudinaux extrêmement forts. Associés à l'excitation plasmonique de surface, ces états de polarisation peuvent être employés dans des systèmes de microscopie optique à balayage à champ proche sans ouverture. Un faisceau à polarisation radiale est dirigé dans une fibre optique génératrice de plasmons comprenant une pointe conique sans ouverture, revêtue de métal. La pointe sans ouverture excite des ondes de plasmons de surface et les dirige vers la pointe lorsqu'un faisceau à polarisation radiale se propage le long de la fibre optique génératrice de plasmons. Une lentille de focalisation capte les signaux optiques à champ proche à partir d'un échantillon positionné de manière adjacente au niveau de la pointe sans ouverture. La résolution spatiale potentielle de la microscopie optique à balayage à champ proche (NSOM) sans ouverture peut atteindre un niveau allant au-delà de 10 nm. Une telle augmentation de champ permet le développement d'un système nano-Raman fiable qui peut mesurer des compositions mécaniques aussi bien que chimiques d'échantillon avec une résolution allant au-delà de 10 nm.
Également publié en tant que
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international