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1. (WO2007147000) diagnostic exhaustif de défauts de pontage dans un circuit intégré
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2007/147000    N° de la demande internationale :    PCT/US2007/071117
Date de publication : 21.12.2007 Date de dépôt international : 13.06.2007
CIB :
G06F 17/50 (2006.01)
Déposants : INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION [US/US]; New Orchard Road, Armonk, NY 10504 (US) (Tous Sauf US).
HEABERLIN, Douglas, C. [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : HEABERLIN, Douglas, C.; (US)
Mandataire : LE STRANGE, Michael, J.; International Business Machines Corporation, Intellectual Peoperty Law - Zip 972e, 1000 River Street, Essex Junction, VT 05452 (US)
Données relatives à la priorité :
11/423,854 13.06.2006 US
Titre (EN) EXHAUSTIVE DIAGNOSIS OF BRIDGING DEFECTS IN AN INTEGRATED CIRCUIT
(FR) diagnostic exhaustif de défauts de pontage dans un circuit intégré
Abrégé : front page image
(EN)A method, system and computer program product for diagnosing a bridging defect in an integrated circuit including multiple nodes (20) are disclosed. Quiescent power supply current (IDDQ) of the integrated circuit (IC) is measured (40) under multiple test vectors (30). Logic states of the nodes on the IC are also obtained (20) under the multiple test vectors (30). The nodes are partitioned (S3) into sets based on their logic states under low-current test vectors. Large sets are further divided into subsets ('state-count subsets') (S 5-1) based on the logic states of nodes under high-current test vectors. For large sets, explicit evaluation under the IDDQ bridge fault model is performed only on pairs of nodes belonging to subsets having complementary state counts (S5-2, S5-3), to save system resources in computation. Exhaustive diagnosis considering all pairs of nodes on the IC is thus feasibly achieved due to the saving of system resources.
(FR)L'invention concerne un procédé, un système et un produit-programme informatique pour diagnostiquer un défaut de pontage dans un circuit intégré comprenant des nœuds multiples (20). Un courant d'alimentation électrique de repos (IDDQ) du circuit intégré (IC) est mesuré (40) dans des vecteurs d'essais multiples (30). Des états logiques des nœuds sur l'IC sont également obtenus (20) dans les vecteurs d'essais multiples (30). Les nœuds sont divisés (S3) en des ensembles sur la base de leurs états logiques dans des vecteurs d'essais de courant faible. Des ensembles importants sont divisés en outre en des sous-ensembles (' sous-ensembles de comptage d'état') (S 5-1) sur la base des états logiques des nœuds dans des vecteurs d'essais de courant élevé. Pour des ensembles importants, une évaluation explicite dans le modèle de défaut de pontage IDDQ est réalisée seulement sur des paires de nœuds appartenant à des sous-ensembles ayant des comptages d'état complémentaires (S5-2, S5-3), pour sauvegarder des ressources de système dans le calcul. Un diagnostic exhaustif considérant toutes les paires de nœuds sur l'IC est donc vraisemblablement obtenu grâce à la sauvegarde des ressources de système.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)