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Paramétrages

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1. WO2007146583 - PROCÉDÉ DE CONCEPTION D'UN SYSTÈME TEST DE CARTE SONDE SPÉCIFIQUE À UNE APPLICATION

Numéro de publication WO/2007/146583
Date de publication 21.12.2007
N° de la demande internationale PCT/US2007/069810
Date du dépôt international 25.05.2007
CIB
G01R 31/02 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31Dispositions pour tester les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour tests électriques caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
02Essai des appareils, des lignes ou des composants électriques pour y déceler la présence de courts-circuits, de discontinuités, de fuites ou de connexions incorrectes de lignes
CPC
G01R 31/2889
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
2851Testing of integrated circuits [IC]
2886Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks
2889Interfaces, e.g. between probe and tester
G01R 31/31905
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
317Testing of digital circuits
3181Functional testing
319Tester hardware, i.e. output processing circuit
31903tester configuration
31905Interface with the device under test [DUT], e.g. arrangements between the test head and the DUT, mechanical aspects, fixture
G01R 31/31926
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
317Testing of digital circuits
3181Functional testing
319Tester hardware, i.e. output processing circuit
31917Stimuli generation or application of test patterns to the device under test [DUT]
31926Routing signals to or from the device under test [DUT], e.g. switch matrix, pin multiplexing
G01R 35/00
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
35Testing or calibrating of apparatus covered by the preceding groups
Déposants
  • FORMFACTOR, INC. [US/US]; 7005 Southfront Road Livermore, California 94551, US (AllExceptUS)
  • MILLER, Charles, A. [US/US]; US (UsOnly)
  • CHRAFT, Matthew, E. [US/US]; US (UsOnly)
  • HENSON, Roy, J. [US/US]; US (UsOnly)
Inventeurs
  • MILLER, Charles, A.; US
  • CHRAFT, Matthew, E.; US
  • HENSON, Roy, J.; US
Mandataires
  • MERKADEAU, Stuart, L. ; 7005 Southfront Road Livermore, California 94551, US
Données relatives à la priorité
11/452,78413.06.2006US
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) METHOD OF DESIGNING AN APPLICATION SPECIFIC PROBE CARD TEST SYSTEM
(FR) PROCÉDÉ DE CONCEPTION D'UN SYSTÈME TEST DE CARTE SONDE SPÉCIFIQUE À UNE APPLICATION
Abrégé
(EN)
A method is provided for design and programming of a probe card with an on-board programmable controller in a wafer test system. Consideration of introduction of the programmable controller is included in a CAD wafer layout and probe card design process. The CAD design is further loaded into the programmable controller, such as an FPGA to program it: (1) to control direction of signals to particular ICs , even during the test process (2) to generate test vector signals to provide to the ICs , and (3) to receive test signals and process test results from the received signals. In some embodiments, burn-in only testing is provided to limit test system circuitry needed so that with a programmable controller on the probe card, text equipment external to the probe card can be eliminated or significantly reduced from conventional test equipment.
(FR)
L'invention concerne un procédé pour la conception et la programmation d'une carte sonde avec un dispositif de commande programmable intégré dans un système de test de tranche. L'introduction du dispositif de commande programmable est prévue dans le processus de conception de la carte sonde et de la disposition de la tranche par CAD. La conception CAD est, en outre, chargée dans le dispositif de commande programmable, tel qu'un FPGA, pour le programmer : (1) pour commander la direction des signaux jusqu'à des CI particulières, même pendant le processus de test ; (2) pour générer des signaux vectoriels de test à transmettre aux CI et (3) pour recevoir des signaux de test et pour traiter les résultats du test à partir des signaux reçus. Dans certains modes de réalisation, on envisage seulement un test de résistance à la chaleur pour limiter les circuits du système test nécessaires de telle sorte qu'avec un dispositif de commande programmable sur la carte sonde, le matériel de test externe à la carte sonde peut être éliminé, ou réduit de façon significative, par rapport a matériel de test classique.
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