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Paramétrages

Paramétrages

1. WO2007146176 - système et procédés d'analyse non destructrice

Numéro de publication WO/2007/146176
Date de publication 21.12.2007
N° de la demande internationale PCT/US2007/013599
Date du dépôt international 08.06.2007
CIB
G01N 21/55 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
17Systèmes dans lesquels la lumière incidente est modifiée suivant les propriétés du matériau examiné
55Réflexion spéculaire
CPC
G01N 2021/8466
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible or ultra-violet light
84Systems specially adapted for particular applications
8466Investigation of vegetal material, e.g. leaves, plants, fruits
G01N 21/55
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible or ultra-violet light
17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
55Specular reflectivity
Déposants
  • THE BOARD OF REGENTS OF THE UNIVERSITY OF NEBRASKA-LINCOLN [US/US]; 1320 "Q" Street Lincoln, NE 68588-0467, US
  • GITELSON, Anatoly [US/US]; US (UsOnly)
  • MERZYLAK, Mark [RU/RU]; null (UsOnly)
  • RUNDQUIST, Donald, C. [US/US]; null (UsOnly)
Inventeurs
  • GITELSON, Anatoly; US
  • MERZYLAK, Mark; null
  • RUNDQUIST, Donald, C.; null
Mandataires
  • VALAUSKAS, Charles, C. ; Valauskas & Pine, LLC 150 North Wacker Drive, Suite 1825 Chicago, IL 60606, US
Données relatives à la priorité
60/811,97808.06.2006US
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) SYSTEM AND METHODS FOR NON-DESTRUCTIVE ANALYSIS
(FR) système et procédés d'analyse non destructrice
Abrégé
(EN)
A system and methods by which the state or condition of an object may be determined through the analysis of spectral bands. One embodiment of the present invention automatically detects a first spectral band having an absorption that is highly sensitive to the color of the object, such as that produced through a colorant or a pigment of interest. The embodiment then may automatically detect a second spectral band having absorption sensitive to color resulting from other colorants or pigments other than the pigment of interest. A third spectral band may also be automatically detected that is sensitive to reflective differences caused by variation in conditions. Subtracting the absorption in the first band by the second band and multiplying the result by the amount of light reflected in the third band results in the index. The index can be highly correlated with the concentration of the colorant of interest.
(FR)
L'invention concerne un système et des procédés permettant de déterminer l'état ou la condition d'un objet à travers l'analyse de bandes spectrales. Un mode de réalisation de la présente invention détecte automatiquement une première bande spectrale possédant une absorption qui est extrêmement sensible à la couleur de l'objet, comme celle produite par un colorant ou un pigment d'intérêt. Le mode de réalisation peut ensuite détecter automatiquement une seconde bande spectrale possédant une absorption sensible à la couleur résultant d'autres colorants ou pigments que le pigment d'intérêt. Une troisième bande spectrale peut également être automatiquement détectée, celle-ci étant sensible aux différences réfléchissantes provoquées par une variation des conditions. En soustrayant l'absorption dans la première bande par la seconde bande et en multipliant le résultat par la quantité de lumière réfléchie dans la troisième bande on obtient l'indice. L'indice peut être étroitement corrélé avec la concentration du colorant d'intérêt.
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