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Paramétrages

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1. WO2007142061 - Dispositif de contrôle des micropuces

Numéro de publication WO/2007/142061
Date de publication 13.12.2007
N° de la demande internationale PCT/JP2007/060795
Date du dépôt international 28.05.2007
CIB
G01N 35/08 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
35Analyse automatique non limitée à des procédés ou à des matériaux spécifiés dans un seul des groupes G01N1/-G01N33/153; Manipulation de matériaux à cet effet
08en utilisant un courant d'échantillons discrets circulant dans une canalisation, p.ex. analyse à injection dans un écoulement
G01N 37/00 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
37Détails non couverts par les autres groupes de la présente sous-classe
CPC
G01N 2035/00158
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
35Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
00029provided with flat sample substrates, e.g. slides
00099Characterised by type of test elements
00158Elements containing microarrays, i.e. "biochip"
G01N 35/00029
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
35Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
00029provided with flat sample substrates, e.g. slides
Déposants
  • コニカミノルタエムジー株式会社 Konica Minolta Medical & Graphic, Inc. [JP/JP]; 〒1918511 東京都日野市さくら町1番地 Tokyo 1, Sakura-machi, Hino-shi, Tokyo 1918511, JP (AllExceptUS)
  • 澤住 庸生 SAWAZUMI, Tsuneo [JP/JP]; JP (UsOnly)
  • 北村 光晴 KITAMURA, Mitsuharu [JP/JP]; JP (UsOnly)
Inventeurs
  • 澤住 庸生 SAWAZUMI, Tsuneo; JP
  • 北村 光晴 KITAMURA, Mitsuharu; JP
Données relatives à la priorité
2006-15700106.06.2006JP
Langue de publication japonais (JA)
Langue de dépôt japonais (JA)
États désignés
Titre
(EN) MICROCHIP INSPECTION DEVICE
(FR) Dispositif de contrôle des micropuces
(JA) マイクロチップ検査装置
Abrégé
(EN)
A microchip inspection device with a temperature control function capable of performing accurate inspection. The inspection device comprises a microchip containing part in which a microchip having a part to be detected and a part to be temperature-controlled is contained, a detection section disposed correspondingly to the part to be detected of the microchip contained in the microchip containing part, a temperature control section disposed correspondingly to the part to be temperature-controlled of the microchip contained in the microchip containing part, and a control section for reducing the power of the temperature control section when the part to be detected of the microchip contained in the microchip containing part is detected by the detection section.
(FR)
L'invention concerne un dispositif de contrôle de micropuce avec une fonctionnalité de contrôle de la température permettant d'effectuer un contrôle précis. Le dispositif de contrôle comprend une partie qui reçoit la micropuce dont une partie doit être détectée et une partie doit être contrôlée en température, une section de détection disposée de manière à correspondre à la partie de la micropuce contenue dans la partie recevant la micropuce et devant être détectée, une section de contrôle de la température disposée de manière à correspondre à la partie de la micropuce contenue dans la partie recevant la micropuce et devant être contrôlée en température, et une section de commande destinée à réduire la puissance de la section de contrôle de la température lorsque la partie à détecter de la micropuce contenue dans la partie recevant la micropuce est détectée par la section de détection.
(JA)
 本発明は、温調機能を備えたマイクロチップ検査装置において、精度良い検出を行うことのできるマイクロチップ検査装置を提供する。 被検出部及び被温調部を有するマイクロチップが収容されるマイクロチップ収容部と、前記マイクロチップ収容部に収容されたマイクロチップの被検出部に対応して設けられた検出部と、前記マイクロチップ収容部に収容されたマイクロチップの前記被温調部に対応して設けられた温調部と、前記検出部により前記マイクロチップ収容部に収容されたマイクロチップの被検出部の検出を行う際に、前記温調部の仕事率を低減させる制御部と、を有する。
Également publié en tant que
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