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Paramétrages

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1. WO2007141896 - Circuit intégré à semiconducteur

Numéro de publication WO/2007/141896
Date de publication 13.12.2007
N° de la demande internationale PCT/JP2006/324957
Date du dépôt international 14.12.2006
CIB
H03K 3/037 2006.01
HÉLECTRICITÉ
03CIRCUITS ÉLECTRONIQUES FONDAMENTAUX
KTECHNIQUE DE L'IMPULSION
3Circuits pour produire des impulsions électriques; Circuits monostables, bistables ou multistables
02Générateurs caractérisés par le type de circuit ou par les moyens utilisés pour produire des impulsions
027par l'utilisation de circuits logiques, avec réaction positive interne ou externe
037Circuits bistables
G01R 31/28 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31Dispositions pour tester les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour tests électriques caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
28Test de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux
G01R 31/3185 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31Dispositions pour tester les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour tests électriques caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
28Test de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux
317Tests de circuits numériques
3181Tests fonctionnels
3185Reconfiguration pour les essais, p.ex. LSSD, découpage
H03K 3/356 2006.01
HÉLECTRICITÉ
03CIRCUITS ÉLECTRONIQUES FONDAMENTAUX
KTECHNIQUE DE L'IMPULSION
3Circuits pour produire des impulsions électriques; Circuits monostables, bistables ou multistables
02Générateurs caractérisés par le type de circuit ou par les moyens utilisés pour produire des impulsions
353par l'utilisation, comme éléments actifs, de transistors à effet de champ avec réaction positive interne ou externe
356Circuits bistables
CPC
G01R 31/31721
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
317Testing of digital circuits
31721Power aspects, e.g. power supplies for test circuits, power saving during test
G01R 31/31727
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
317Testing of digital circuits
31727Clock circuits aspects, e.g. test clock circuit details, timing aspects for signal generation, circuits for testing clocks
H03K 3/0372
HELECTRICITY
03BASIC ELECTRONIC CIRCUITRY
KPULSE TECHNIQUE
3Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
02Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
027by the use of logic circuits, with internal or external positive feedback
037Bistable circuits
0372of the master-slave type
H03K 5/1534
HELECTRICITY
03BASIC ELECTRONIC CIRCUITRY
KPULSE TECHNIQUE
5Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
153Arrangements in which a pulse is delivered at the instant when a predetermined characteristic of an input signal is present or at a fixed time interval after this instant
1534Transition or edge detectors
Déposants
  • パナソニック株式会社 PANASONIC CORPORATION [JP/JP]; 5718501 大阪府門真市大字門真1006番地 Osaka 1006, Oaza Kadoma, Kadoma-shi, Osaka 5718501, JP (AllExceptUS)
  • 神谷 久男 KAMIYA, Hisao; null (UsOnly)
  • 大木 基裕 OHKI, Motohiro; null (UsOnly)
Inventeurs
  • 神谷 久男 KAMIYA, Hisao; null
  • 大木 基裕 OHKI, Motohiro; null
Mandataires
  • 前田 弘 MAEDA, Hiroshi; 〒5410053 大阪府大阪市中央区本町2丁目5番7号 大阪丸紅ビル Osaka Osaka-Marubeni Bldg. 5-7, Hommachi 2-chome, Chuo-ku Osaka-shi, Osaka 5410053, JP
Données relatives à la priorité
2006-15569505.06.2006JP
Langue de publication japonais (JA)
Langue de dépôt japonais (JA)
États désignés
Titre
(EN) SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
(FR) Circuit intégré à semiconducteur
(JA) 半導体集積回路
Abrégé
(EN)
A semiconductor integrated circuit is provided with one or a plurality of flip-flop circuits (10a, 10b), and a control signal generating section (20). The control signal generating section (20) outputs a control signal and controls operation and non-operation of the flip-flop circuits (10a, 10b). Each of the flip-flop circuits (10a, 10b) operates by receiving a clock signal and the control signal outputted from the control signal generating section (20).
(FR)
L'invention concerne un circuit intégré à semiconducteur comportant une ou une pluralité de bascules bistables (10a, 10b), et une section engendrant un signal de commande (20). La section engendrant un signal de commande (20) émet un signal de commande et contrôle le fonctionnement et le non-fonctionnement des bascules bistables (10a, 10b). Chacune des bascules bistables (10a, 10b) fonctionne à réception d'un signal d'horloge et du signal de commande émis par la section engendrant le signal de commande (20).
(JA)
 半導体集積回路は、1又は複数のフリップフロップ回路(10a及び10b)と、制御信号生成部(20)とを備えている。制御信号生成部(20)は、制御信号を出力してフリップフロップ回路(10a及び10b)の動作及び非動作を制御する。フリップフロップ回路(10a及び10b)はそれぞれ、クロック信号及び制御信号生成部(20)から出力された制御信号を受けて動作する。
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