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1. (WO2007141876) PROCÉDÉ POUR ÉVALUER L'ÉTAT DE DÉTÉRIORATION D'UNE BATTERIE, DISPOSITIF D'ÉVALUATION DE DÉTÉRIORATION ET SYSTÈME D'ALIMENTATION
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2007/141876    N° de la demande internationale :    PCT/JP2006/311638
Date de publication : 13.12.2007 Date de dépôt international : 09.06.2006
CIB :
G01R 31/36 (2006.01)
Déposants : THE FURUKAWA ELECTRIC CO., LTD. [JP/JP]; 2-3, Marunouchi 2-chome Chiyoda-ku, Tokyo 1008322 (JP) (Tous Sauf US).
IWANE, Noriyasu [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
IWAHANA, Fumikazu [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
KIMURA, Atsushi [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : IWANE, Noriyasu; (JP).
IWAHANA, Fumikazu; (JP).
KIMURA, Atsushi; (JP)
Mandataire : MATSUSHITA, Makoto; Marutomo Tokyo Building. 9F. 3-2-2, Iwamotocho Chiyoda-ku, Tokyo 1010032 (JP)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) METHOD FOR JUDGING DETERIORATION STATE OF BATTERY, DETERIORATION JUDGMENT DEVICE AND POWER SUPPLY SYSTEM
(FR) PROCÉDÉ POUR ÉVALUER L'ÉTAT DE DÉTÉRIORATION D'UNE BATTERIE, DISPOSITIF D'ÉVALUATION DE DÉTÉRIORATION ET SYSTÈME D'ALIMENTATION
(JA) 電池の劣化状態判定方法,劣化判定装置及び電源システム
Abrégé : front page image
(EN)A method and a device for judging deterioration state of a battery in which the load of operation processing can be reduced sharply by performing rectangular wave development of sampling data when the battery is made to perform pulse discharge of rectangular wave, or the like. A power supply system is also provided. The device for judging deterioration state comprises a discharge means (2) for making a battery (1) perform pulse discharge of substantially rectangular wave with a predetermined current value (7), a rectangular wave developing means (3) for sampling a response voltage (6) when the battery (1) is made to perform pulse discharge and developing it to a rectangular wave component orthogonal to the response voltage, an impedance calculating means (4) for calculating a pseudo-impedance (8) from a coefficient calculated by the rectangular wave developing means (3) and the current value (7), and a deterioration judging means (5) for judging deterioration state of the battery (1) by using the pseudo-impedance (8).
(FR)La présente invention concerne un procédé et un dispositif pour évaluer l'état de détérioration d'une batterie dans laquelle la charge du traitement d'opération peut être grandement réduite en réalisant un développement d'onde rectangulaire de données d'échantillonnage lorsque la batterie est amenée à réaliser une décharge d'impulsion d'une onde rectangulaire ou autre. L'invention concerne également un système d'alimentation. Le dispositif pour évaluer l'état de détérioration comprend un moyen de décharge (2) pour amener une batterie (1) à réaliser une décharge d'impulsion d'une onde sensiblement rectangulaire avec une valeur de courant prédéterminée (7), un moyen de développement d'onde rectangulaire (3) pour échantillonner une tension de réponse (6) lorsque la batterie (1) est amenée à réaliser une décharge d'impulsion et la développer en un composant d'onde rectangulaire orthogonal à la tension de réponse, un moyen de calcul de l'impédance (4) pour calculer une pseudo-impédance (8) à partir d'un coefficient calculé par le moyen de développement de l'onde rectangulaire (3) et la valeur actuelle (7) et un moyen d'évaluation de la détérioration (5) pour évaluer l'état de détérioration de la batterie (1) en utilisant la pseudo-impédance (8).
(JA) 電池に矩形波等のパルス放電をさせたときのサンプリングデータを矩形波展開することで、演算処理の負荷を大幅に軽減できる電池の劣化状態判定方法及び劣化判定装置、並びに電源システムを提供する。  本発明の劣化状態判定方法は、電池1に所定の電流値7で略矩形波のパルス放電を行わせる放電手段2と、電池1をパルス放電させたときの応答電圧6をサンプリングしてこれを直交する矩形波成分に展開する矩形波展開手段3と、矩形波展開手段3で算出した係数と電流値7から擬似インピーダンス8を算出する擬似インピーダンス算出手段4と、擬似インピーダンス8を用いて電池1の劣化状態を判定する劣化判定手段5からなる。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)