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1. (WO2007140623) MÉthode et appareillage pour des microscopes À mise au point automatique coRrigÉs À l'infini
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2007/140623    N° de la demande internationale :    PCT/CA2007/001032
Date de publication : 13.12.2007 Date de dépôt international : 11.06.2007
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    04.04.2008    
CIB :
G02B 7/28 (2006.01), G02B 21/00 (2006.01), G02B 7/36 (2006.01)
Déposants : WEGU-DEVICE INC. [CA/CA]; 2 Select Avenue, Unit 2, Toronto, Ontario M1V 5J4 (CA) (Tous Sauf US).
WEISS, Adam [CA/CA]; (CA) (US Seulement).
OBOTNINE, Alexandre [CA/CA]; (CA) (US Seulement).
LASINSKI, Andrew [CA/CA]; (CA) (US Seulement)
Inventeurs : WEISS, Adam; (CA).
OBOTNINE, Alexandre; (CA).
LASINSKI, Andrew; (CA)
Mandataire : ARMSTRONG, Craig, R.; Borden Ladner Gervais LLP, World Exchange Plaza, 100 Queen Street, Suite 1100, Ottawa, Ontario K1P 1J9 (CA)
Données relatives à la priorité :
60/804,335 09.06.2006 US
Titre (EN) METHOD AND APPARATUS FOR AUTO-FOCUSSING INFINITY CORRECTED MICROSCOPES
(FR) MÉthode et appareillage pour des microscopes À mise au point automatique coRrigÉs À l'infini
Abrégé : front page image
(EN)The invention is directed at a method and apparatus for auto-focussing an infinity corrected microscope. Light beams are directed and then converged towards a specimen of interest and at least one image is formed from the reflected light. The image, or images, are then reviewed and calibration measurements are retrieved from the image. These calibration measurement are then used to determine focussing measurements which are used to auto-focus the microscope.
(FR)L'invention concerne une méthode et un appareillage de mise au point automatique pour un microscope corrigé à l'infini. Des faisceaux de lumière sont dirigés de façon à converger vers un échantillon examiné et au moins une image est formée par la lumière réfléchie. L'image, ou les images, sont ensuite réexaminées et des mesures d'étalonnage sont extraites de ladite image. Ces mesures d'étalonnage sont ensuite utilisées pour déterminer des mesures de focale qui servent à effectuer la mise au point automatique du microscope.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)