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Paramétrages

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1. WO2007140623 - MÉthode et appareillage pour des microscopes À mise au point automatique coRrigÉs À l'infini

Numéro de publication WO/2007/140623
Date de publication 13.12.2007
N° de la demande internationale PCT/CA2007/001032
Date du dépôt international 11.06.2007
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 04.04.2008
CIB
G02B 7/28 2006.01
GPHYSIQUE
02OPTIQUE
BÉLÉMENTS, SYSTÈMES OU APPAREILS OPTIQUES
7Montures, moyens de réglage ou raccords étanches à la lumière pour éléments optiques
28Systèmes pour la génération automatique de signaux de mise au point
G02B 21/00 2006.01
GPHYSIQUE
02OPTIQUE
BÉLÉMENTS, SYSTÈMES OU APPAREILS OPTIQUES
21Microscopes
G02B 7/36 2006.01
GPHYSIQUE
02OPTIQUE
BÉLÉMENTS, SYSTÈMES OU APPAREILS OPTIQUES
7Montures, moyens de réglage ou raccords étanches à la lumière pour éléments optiques
28Systèmes pour la génération automatique de signaux de mise au point
36utilisant des techniques liées à la netteté de l'image
CPC
G02B 21/244
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
21Microscopes
24Base structure
241Devices for focusing
244using image analysis techniques
G02B 7/38
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
7Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
28Systems for automatic generation of focusing signals
36using image sharpness techniques ; , e.g. image processing techniques for generating autofocus signals
38measured at different points on the optical axis ; , e.g. focussing on two or more planes and comparing image data
Déposants
  • WEGU-DEVICE INC. [CA/CA]; 2 Select Avenue, Unit 2 Toronto, Ontario M1V 5J4, CA (AllExceptUS)
  • WEISS, Adam [CA/CA]; CA (UsOnly)
  • OBOTNINE, Alexandre [CA/CA]; CA (UsOnly)
  • LASINSKI, Andrew [CA/CA]; CA (UsOnly)
Inventeurs
  • WEISS, Adam; CA
  • OBOTNINE, Alexandre; CA
  • LASINSKI, Andrew; CA
Mandataires
  • ARMSTRONG, Craig, R. ; Borden Ladner Gervais LLP World Exchange Plaza 100 Queen Street Suite 1100 Ottawa, Ontario K1P 1J9, CA
Données relatives à la priorité
60/804,33509.06.2006US
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) METHOD AND APPARATUS FOR AUTO-FOCUSSING INFINITY CORRECTED MICROSCOPES
(FR) MÉthode et appareillage pour des microscopes À mise au point automatique coRrigÉs À l'infini
Abrégé
(EN)
The invention is directed at a method and apparatus for auto-focussing an infinity corrected microscope. Light beams are directed and then converged towards a specimen of interest and at least one image is formed from the reflected light. The image, or images, are then reviewed and calibration measurements are retrieved from the image. These calibration measurement are then used to determine focussing measurements which are used to auto-focus the microscope.
(FR)
L'invention concerne une méthode et un appareillage de mise au point automatique pour un microscope corrigé à l'infini. Des faisceaux de lumière sont dirigés de façon à converger vers un échantillon examiné et au moins une image est formée par la lumière réfléchie. L'image, ou les images, sont ensuite réexaminées et des mesures d'étalonnage sont extraites de ladite image. Ces mesures d'étalonnage sont ensuite utilisées pour déterminer des mesures de focale qui servent à effectuer la mise au point automatique du microscope.
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