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Paramétrages

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1. WO2007139212 - ANALYSEUR AUTOMATIQUE

Numéro de publication WO/2007/139212
Date de publication 06.12.2007
N° de la demande internationale PCT/JP2007/061188
Date du dépôt international 01.06.2007
CIB
G01N 35/04 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
35Analyse automatique non limitée à des procédés ou à des matériaux spécifiés dans un seul des groupes G01N1/-G01N33/153; Manipulation de matériaux à cet effet
02en utilisant une série de récipients à échantillons déplacés par un transporteur passant devant un ou plusieurs postes de traitement ou d'analyse
04Détails du transporteur
CPC
G01N 35/0095
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
35Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
00584Control arrangements for automatic analysers
0092Scheduling
0095introducing urgent samples with priority, e.g. Short Turn Around Time Samples [STATS]
G01N 35/04
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
35Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
02using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations
04Details of the conveyor system
Déposants
  • オリンパス株式会社 OLYMPUS CORPORATION [JP/JP]; 〒1510072 東京都渋谷区幡ヶ谷2丁目43番2号 Tokyo 43-2, Hatagaya 2-chome, Shibuya-ku, Tokyo 1510072, JP (AllExceptUS)
  • 雨宮 隆 AMEMIYA, Takashi [JP/JP]; JP (UsOnly)
Inventeurs
  • 雨宮 隆 AMEMIYA, Takashi; JP
Mandataires
  • 酒井 宏明 SAKAI, Hiroaki; 〒1006020 東京都千代田区霞が関三丁目2番5号 霞が関ビルディング 酒井国際特許事務所 Tokyo Sakai International Patent Office Kasumigaseki Building 2-5, Kasumigaseki 3-chome Chiyoda-ku, Tokyo 1006020, JP
Données relatives à la priorité
2006-15391901.06.2006JP
Langue de publication japonais (JA)
Langue de dépôt japonais (JA)
États désignés
Titre
(EN) AUTOMATIC ANALYZER
(FR) ANALYSEUR AUTOMATIQUE
(JA) 自動分析装置
Abrégé
(EN)
An automatic analyzer (1) has more lanes than an analyte conveyance section (44) and also has a lane shift section (46) having a bridging lane (46a) for shifting an analyte rack in the direction perpendicular to the conveyance direction. To first convey a succeeding emergency analyte rack having a higher priority of analysis, a preceding analyte rack (41) present on the bridging lane (46a) is temporarily evacuated from a conveyance lane by shift operation of the lane shift section (46) to allow the succeeding emergency analyte rack to be conveyed first.
(FR)
La présente invention concerne un analyseur automatique (1) qui possède plus de voies qu'une section de transport d'analyte (44), ainsi qu'une section de décalage de voie (46) ayant une voie de liaison (46a) pour décaler une armoire d'analyte dans une direction perpendiculaire à la direction du transport. Pour transporter d'abord une armoire d'analyte d'urgence suivante ayant une priorité supérieure d'analyse, une armoire d'analyte précédente (41) présente sur la voie de liaison (46a) est temporairement évacuée, d'une voie de transport par une opération de décalage de la section de décalage de voie (46) pour permettre à l'armoire d'analyte d'urgence suivante d'être transportée en premier.
(JA)
 この発明にかかる自動分析装置1は、検体搬送部44のレーン数より多い数のレーンからなり、搬送方向と直交する方向にシフトする橋渡し用レーン46aを有するレーンシフト部46を備え、分析の優先度が高い検体を保有する後続の緊急用検体ラックを先に搬送したい場合に、レーンシフト部46のシフト動作によって、橋渡し用レーン46aに存在する先行の検体ラック41を搬送ラインから一時退避させて、後続の緊急用検体ラックを先に搬送する。
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