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1. WO2007103304 - APPAREIL MOBILE PERMETTANT DES MESURES DE SURFACE

Numéro de publication WO/2007/103304
Date de publication 13.09.2007
N° de la demande internationale PCT/US2007/005577
Date du dépôt international 06.03.2007
CIB
C25D 11/02 2006.01
CCHIMIE; MÉTALLURGIE
25PROCÉDÉS ÉLECTROLYTIQUES OU ÉLECTROPHORÉTIQUES; APPAREILLAGES À CET EFFET
DPROCÉDÉS POUR LA PRODUCTION ÉLECTROLYTIQUE OU ÉLECTROPHORÉTIQUE DE REVÊTEMENTS; GALVANOPLASTIE; JONCTION DE PIÈCES PAR ÉLECTROLYSE; APPAREILLAGES À CET EFFET
11Revêtement électrolytique par réaction de surface, c. à d. par formation de couches de conversion
02Anodisation
C25D 21/12 2006.01
CCHIMIE; MÉTALLURGIE
25PROCÉDÉS ÉLECTROLYTIQUES OU ÉLECTROPHORÉTIQUES; APPAREILLAGES À CET EFFET
DPROCÉDÉS POUR LA PRODUCTION ÉLECTROLYTIQUE OU ÉLECTROPHORÉTIQUE DE REVÊTEMENTS; GALVANOPLASTIE; JONCTION DE PIÈCES PAR ÉLECTROLYSE; APPAREILLAGES À CET EFFET
21Procédés pour l'entretien ou la conduite des cellules pour revêtement électrolytique
12Commande ou régulation
G01B 11/06 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
BMESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
11Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de moyens optiques
02pour mesurer la longueur, la largeur ou l'épaisseur
06pour mesurer l'épaisseur
G01B 15/02 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
BMESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
15Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de radiations d'ondes ou de particules
02pour mesurer l'épaisseur
G01B 17/02 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
BMESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
17Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de vibrations infrasonores, sonores ou ultrasonores
02pour mesurer l'épaisseur
CPC
C25D 11/02
CCHEMISTRY; METALLURGY
25ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
DPROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
11Electrolytic coating by surface reaction, i.e. forming conversion layers
02Anodisation
C25D 21/12
CCHEMISTRY; METALLURGY
25ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
DPROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
21Processes for servicing or operating cells for electrolytic coating
12Process control or regulation
G01B 11/0625
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
11Measuring arrangements characterised by the use of optical means
02for measuring length, width or thickness
06for measuring thickness, e.g. of sheet material
0616of coating
0625with measurement of absorption or reflection
G01B 11/0683
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
11Measuring arrangements characterised by the use of optical means
02for measuring length, width or thickness
06for measuring thickness, e.g. of sheet material
0616of coating
0683measurement during deposition or removal of the layer
Déposants
  • SENSORY ANALYTICS [US]/[US] (AllExceptUS)
  • PRICE, Joseph, K. [US]/[US] (UsOnly)
  • PAVELKA, Jeff [US]/[US] (UsOnly)
Inventeurs
  • PRICE, Joseph, K.
  • PAVELKA, Jeff
Mandataires
  • CALKINS, Charles, W.
Données relatives à la priorité
60/780,10307.03.2006US
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) A MOBILE APPARATUS CAPABLE OF SURFACE MEASUREMENTS OF A COATING THICKNESS
(FR) APPAREIL MOBILE PERMETTANT DES MESURES DE SURFACE
Abrégé
(EN)
The present invention relates to a mobile apparatus and/or system that measures the thickness at one or more locations of a surface on at least a part of a substrate and methods of using said apparatus and/or system. The mobile apparatus and/or system in one embodiment includes an apparatus and/or system having a coating thickness monitor and, optionally, an apparatus and/or system for simultaneously regulating the coating thickness applied on a substrate. In another embodiment, the apparatus and system has the ability to measure coating thickness subsequent to the coating's formation.
(FR)
La présente invention concerne un appareil mobile et/ou un système qui mesure l'épaisseur en un ou plusieurs points à la surface d'au moins une partie d'un substrat, ainsi que des procédés pour utiliser cet appareil et/ou système. Dans un mode de réalisation, ledit appareil mobile et/ou système comprend un appareil et/ou système qui présente un système de contrôle d'épaisseur de revêtement et éventuellement un appareil et/ou système qui permet de réguler simultanément l'épaisseur de revêtement appliquée sur le substrat. Dans un autre mode de réalisation, l'appareil et le système peuvent mesurer l'épaisseur du revêtement après formation de ce dernier.
Également publié en tant que
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