In one embodiment, the disclosure relates to a method for interrogating a sample by: illuminating a first region of the sample with a first illumination pattern to obtain a plurality of first sample photons; illuminating a second region of the sample with a second illumination pattern to obtain a plurality of second sample photons; processing the plurality of first sample photons to obtain a characteristic atomic emission of the first region and processing the plurality of second sample photons to obtain a Raman spectrum; and identifying the sample through at least one of the characteristic atomic emission of the first region or the Raman spectrum of the second region of the sample.

L'invention porte dans une exécution sur un procédé d’interrogation d’un échantillon consistant: à en éclairer une première zone avec un premier motif d’éclairage pour obtenir un premier groupe de photons de l’échantillon; à en éclairer une deuxième zone avec un deuxième motif d’éclairage pour obtenir un deuxième groupe de photons de l’échantillon; à traiter le premier groupe de photons pour obtenir une émission caractéristique d’atomes de la première zone; à traiter le deuxième groupe de photons pour obtenir un spectre de Raman; et à identifier l’échantillon à l'aide au moins de l’émission caractéristique d’atomes de la première zone ou du spectre de Raman de la deuxième zone.