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1. (WO2006121668) CONFINEMENT D'IONS PARALLELE DANS DES PIEGES A IONS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2006/121668    N° de la demande internationale :    PCT/US2006/016549
Date de publication : 16.11.2006 Date de dépôt international : 01.05.2006
CIB :
H01J 49/42 (2006.01)
Déposants : PURDUE RESEARCH FOUNDATION [US/US]; 3000 Kent Avenue, West Lafayette, IN 47906-1075 (US) (Tous Sauf US).
MCLUCKEY, Scott, A. [US/US]; (US) (US Seulement).
CHRISMAN, Paul, A. [US/US]; (US) (US Seulement).
PITTERI, Sharon, J. [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : MCLUCKEY, Scott, A.; (US).
CHRISMAN, Paul, A.; (US).
PITTERI, Sharon, J.; (US)
Mandataire : CARD, John, M.; Brinks Hofer Gilson & Lione, P.O. Box 10087, Chicago, IL 60610 (US)
Données relatives à la priorité :
60/679,063 09.05.2005 US
Titre (EN) PARALLEL ION PARKING IN ION TRAPS
(FR) CONFINEMENT D'IONS PARALLELE DANS DES PIEGES A IONS
Abrégé : front page image
(EN)A method of controlling ion parking in an ion trap includes generating a trapping field for trapping cations and anions, and applying a tailored waveform during a period when ion/ion reactions occur to park first generation product ions with m/z values that differ from those of a cation and an anion in selected m/z regions. In particular, the tailored waveform inhibits simultaneously the reactions of ions of disparate m/z ratios.
(FR)L'invention concerne un procédé de régulation du confinement d'ions dans un piège à ions. Ledit procédé consiste à engendrer un champ de piégeage des cations et des anions et à appliquer une onde de forme sur mesure, pendant une période où des réactions d'ions/ions se produisent pour confiner des premiers ions de produits de génération avec des valeurs m/z qui diffèrent de celles d'un cation et d'un anion dans des régions m/z sélectionnées. Notamment, l'onde de forme sur mesure permet d'inhiber simultanément les réactions des ions de rapports m/z disparates.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)