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1. (WO2005090581) CONSTRUCTIONS AMELIOREES POUR L'EXCISION DE MARQUEUR BASEE SUR UN MARQUEUR DE SELECTION A DOUBLE FONCTION
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2005/090581    N° de la demande internationale :    PCT/EP2005/002734
Date de publication : 29.09.2005 Date de dépôt international : 15.03.2005
CIB :
C12N 15/82 (2006.01)
Déposants : BASF PLANT SCIENCE GmbH [DE/DE]; 67056 Ludwigshafen (DE) (Tous Sauf US).
SweTree Technologies AB [SE/SE]; Tvistevagen 48, S-907 19 Umea (SE) (Tous Sauf US).
HILLEBRAND, Helke [DE/DE]; (DE) (US Seulement).
EBNETH, Marcus [DE/DE]; (DE) (US Seulement).
NÄSHOLM, Torgny [SE/SE]; (SE) (US Seulement).
ERIKSON, Oskar [SE/SE]; (SE) (US Seulement).
HERTZBERG, Magnus [SE/SE]; (SE) (US Seulement)
Inventeurs : HILLEBRAND, Helke; (DE).
EBNETH, Marcus; (DE).
NÄSHOLM, Torgny; (SE).
ERIKSON, Oskar; (SE).
HERTZBERG, Magnus; (SE)
Mandataire : PRESSLER, Uwe; c/o BASF Aktiengesellschaft, 67056 Ludwigshafen (DE)
Données relatives à la priorité :
04006358.8 17.03.2004 EP
Titre (EN) IMPROVED CONSTRUCTS FOR MARKER EXCISION BASED ON DUAL-FUNCTION SELECTION MARKER
(FR) CONSTRUCTIONS AMELIOREES POUR L'EXCISION DE MARQUEUR BASEE SUR UN MARQUEUR DE SELECTION A DOUBLE FONCTION
Abrégé : front page image
(EN)The invention relates to improved construct and methods for eliminating maker sequences from the genome of plants, based on dual-function selection marker which - depending on the employed compound - can act as both negative and counter-selection marker.
(FR)La présente invention a trait à des constructions améliorées et des procédés pour l'élimination de séquences de marqueurs à partir du génome de plantes, basée sur un marqueur de sélection à double fonction qui, selon le composé utilisé, peut agir à la fois sur le marqueur négatif et de contre-sélection.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)