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1. (WO2005065389) PROCEDES OXYDATIFS SOUS-CRITIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international

N° de publication : WO/2005/065389 N° de la demande internationale : PCT/US2004/043974
Date de publication : 21.07.2005 Date de dépôt international : 30.12.2004
CIB :
C02F 1/72 (2006.01) ,C02F 1/78 (2006.01)
C CHIMIE; MÉTALLURGIE
02
TRAITEMENT DE L'EAU, DES EAUX RÉSIDUAIRES, DES EAUX OU BOUES D'ÉGOUT
F
TRAITEMENT DE L'EAU, DES EAUX RÉSIDUAIRES, DES EAUX OU BOUES D'ÉGOUT
1
Traitement de l'eau, des eaux résiduaires ou des eaux d'égout
72
par oxydation
C CHIMIE; MÉTALLURGIE
02
TRAITEMENT DE L'EAU, DES EAUX RÉSIDUAIRES, DES EAUX OU BOUES D'ÉGOUT
F
TRAITEMENT DE L'EAU, DES EAUX RÉSIDUAIRES, DES EAUX OU BOUES D'ÉGOUT
1
Traitement de l'eau, des eaux résiduaires ou des eaux d'égout
72
par oxydation
78
au moyen d'ozone
Déposants :
ERTH TECHNOLOGIES, INC. [US/US]; 7102 LaVista Place Suite 200 Longmont, Colorado 80503, US (AllExceptUS)
CONGER, Harry, C. [US/US]; US
MUZZY, James, W. [US/US]; US
CORNAY, Paul, J. [US/US]; US
Inventeurs :
CONGER, Harry, C.; US
MUZZY, James, W.; US
CORNAY, Paul, J.; US
Mandataire :
PRENDERGAST, Paul, J. ; Dorsey & Whitney LLP 370 Seventeenth Street, Suite 4700 Denver, CO 80202, US
Données relatives à la priorité :
11/027,82429.12.2004US
60/533,72130.12.2003US
60/604,64725.08.2004US
Titre (EN) SUB-CRITICAL OXIDATIVE PROCESSES
(FR) PROCEDES OXYDATIFS SOUS-CRITIQUE
Abrégé :
(EN) The invention relates to sub-critical processes and systems for accomplishing the same. In one aspect, the process is a sub-critical oxidation process for the destruction of organic and inorganic contaminates within a waste fluid or gas. The sub-critical processes are preferably carried out in a reactor (200) and/or continuous flow centrifuge (202) operating at sub-critical temperature and pressure. The processes and systems provide for destruction of high levels of organic and inorganic contaminates within a contaminate source, which represents a vast improvement over other conventional approaches. The processes and systems also accomplish this superior destruction of contaminates in a much faster time frame, i.e., minutes as compared to hours. Finally, the processes and systems described herein provide a safe and highly economical sub-critical approach as compared to the super-critical conditions, i.e., exceeding high temperatures and pressures, used in most conventional approaches.
(FR) L'invention concerne des procédés et des systèmes oxydatifs sous-critiques. Dans un mode de réalisation, le procédé est un procédés d'oxydation sous-critique permettant de détruire des contaminants organiques et inorganiques dans des déchets fluidiques ou gazeux. Ledit procédé sous-critique s'exécute, de préférence, dans un réacteur et/ou une centrifugeuse à écoulement continu fonctionnant à une température et à une pression sous-critiques. Les procédés et systèmes permettent de détruire des niveaux élevés de contaminants organiques et inorganiques dans une source de contaminants, ce qui représente une profonde amélioration par rapport aux autres approches classiques. Ils permettent également d'effectuer cette destruction de manière plus rapide, c'est-à-dire, des minutes par rapport à des heures. Enfin, ils fournissent une approche sous critique sûre et très économique par rapport aux conditions sous-critiques, c'est-à-dire, dépassant des températures et des pressions élevées utilisées dans la plupart des approches classiques.
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : Anglais (EN)
Langue de dépôt : Anglais (EN)