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1. (WO2005015126) DISPOSITIF DE DETERMINATION DE DIMENSIONS, ET PROCEDE POUR DETERMINER LA POSITION SPATIALE RELATIVE D'UNE UNITE DE MESURE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2005/015126    N° de la demande internationale :    PCT/EP2004/009042
Date de publication : 17.02.2005 Date de dépôt international : 12.08.2004
CIB :
G01C 7/00 (2006.01), G01C 15/00 (2006.01), G01S 5/00 (2006.01)
Déposants : AXT, Sven [DE/DE]; (DE)
Inventeurs : AXT, Sven; (DE)
Mandataire : SEEMANN & PARTNER; Ballindamm 3, 20095 Hamburg (DE)
Données relatives à la priorité :
103 37 330.6 12.08.2003 DE
Titre (DE) AUFMASSEINRICHTUNG UND VERFAHREN ZUR BESTIMMUNG DER RELATIVEN RAUMLAGE EINER MESSEINHEIT
(EN) MEASURING DEVICE AND METHOD FOR DETERMINING THE RELATIVE SPATIAL POSITION OF A MEASURING UNIT
(FR) DISPOSITIF DE DETERMINATION DE DIMENSIONS, ET PROCEDE POUR DETERMINER LA POSITION SPATIALE RELATIVE D'UNE UNITE DE MESURE
Abrégé : front page image
(DE)Die Erfindung betrifft eine Aufmasseinrichtung umfassend eine einen Sender (4, 9) umfassende Messeinheit (1). Die Erfindung betrifft ferner ein Verfahren zum Bestimmen der relativen Raumlage einer Messeinheit (1) zu einer wenigstens drei Referenzelemente (7, 7‘, 7‘‘) umfassenden Referenzeinrichtung (7, 7‘, 7‘‘), wobei die relative Lage der Referenzelemente (7, 7‘, 7‘‘) zueinander vorgegeben wird. Die erfindungsgemässe Aufmasseinrichtung zeichnet sich dadurch aus, dass eine Referenzeinrichtung (6, 7, 7‘, 7‘‘) mit wenigstens drei Referenzelementen (7, 7‘, 7‘‘) vorgesehen ist, wobei jedes Referenzelement (7, 7‘, 7‘‘) ausgestaltet ist, um ein Signal von der Messeinheit (1) aufzunehmen oder zu reflektieren und wobei die relative Lage der Referenzelemente (7, 7‘, 7‘‘) zueinander vorgebbar ist, wobei ausserdem der Abstand (D1, D2, D3) der Messeinheit (1) zu jedem Referenzelement (7, 7‘, 7‘‘) bestimmbar ist. Das erfindungsgemässe Verfahren zeichnet sich dadurch aus, dass zunächst die Distanz (D1, D2, D3) der Messeinheit (1) zu dem jeweiligen Referenzelement (7, 7‘, 7‘‘) bestimmt wird-, wobei anschliessend aus den bestimmten Distanzen (D1, D2, D3) und der relativen Lage der Referenzelemente (7, 7‘, 7‘‘) die relative Raumlage (10 bis 22) der Messeinheit (1) ermittelt wird. Die Erfindung betrifft ferner ein Verfahren zur Bestimmung des Aufmasses eines Raumes (28, 28'), wobei relative Raumlagen einer Messeinheit (1) an den für den Raum (28, 28‘) relevanten Punkten (10 bis 22) nacheinander gemessen werden und die relativen Raumlagen miteinander rechnerisch verbunden werden.
(EN)The invention relates to a measuring device comprising a measuring unit (1) provided with an emitter (4, 9). The invention also relates to a method for determining the relative spatial position of a measuring unit (1) in relation to a reference device (7, 7', 7'') comprising at least three reference elements (7, 7', 7''), the relative position of the reference elements (7, 7', 7'') in relation to each other being preset. The inventive measuring device is characterised in that a reference device (6, 7, 7', 7'') comprising at least three reference elements (7, 7', 7'') is provided, each reference element (7, 7', 7'') being embodied in such a way that a signal from the measuring unit (1) is received or reflected, and the relative position of the reference elements (7, 7', 7'') in relation to each other can be preset. Furthermore, the distance (D1, D2, D3) between the measuring unit (1) and each reference element (7, 7', 7'') can be defined. The inventive method is characterised in that, first, the distance (D1, D2, D3) between the measuring unit (1) and the respective reference element (7, 7', 7'') is defined, and then the relative spatial position (10 to 22) of the measuring unit (1) is determined from the defined distances (D1, D2, D3) and the relative position of the reference elements (7, 7', 7''). The invention further relates to a method for determining the dimension of an area (28, 28'), whereby relative spatial positions of a measuring unit (1) are successively measured at the points (10 to 22) relative to the area (28, 28'), and the relative spatial positions are interconnected in a calculated manner.
(FR)L'invention concerne un dispositif de détermination de dimensions comprenant une unité de mesure (1) pourvue d'un émetteur (4, 9). Cette invention concerne également un procédé pour déterminer la position spatiale relative d'une unité de mesure (1) par rapport à un dispositif de référence (7, 7', 7'') comprenant au moins trois éléments de référence (7, 7', 7''), la position relative des éléments de référence (7, 7', 7'') les uns par rapport aux autres étant prédéfinie. Le dispositif de détermination de dimensions selon l'invention est caractérisé en ce qu'un dispositif de référence (6, 7, 7', 7'') comprenant au moins trois éléments de référence (7, 7', 7'') est prévu, chaque élément de référence (7, 7', 7'') étant configuré de façon à recevoir ou réfléchir un signal provenant de l'unité de mesure (1), la position relative des éléments de référence (7, 7', 7'') les uns par rapport aux autres étant prédéfinissable, et la distance (D1, D2, D3) de l'unité de mesure (1) par rapport à chaque élément de référence (7, 7', 7'') étant déterminable. Le procédé selon l'invention est caractérisé en ce que la distance (D1, D2, D3) séparant l'unité de mesure (1) de chaque élément de référence (7, 7', 7'') est préalablement mesurée, puis, la position spatiale relative (10 à 22) de l'unité de mesure (1) est déterminée à partir des distances mesurées (D1, D2, D3) et de la position relative des éléments de référence (7, 7', 7''). La présente invention concerne en outre un procédé pour déterminer les dimensions d'un espace (28, 28'), les positions spatiales relatives d'une unité de mesure (1) au niveau des points (10 à 22) importants de l'espace (28, 28') étant successivement mesurées, et les positions spatiales relatives étant reliées les unes aux autres par calcul.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : allemand (DE)
Langue de dépôt : allemand (DE)