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1. (WO2005010812) CARTE PERIPHERIQUE AVEC BROCHES DE TEST CACHEES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2005/010812    N° de la demande internationale :    PCT/US2004/021253
Date de publication : 03.02.2005 Date de dépôt international : 30.06.2004
CIB :
G06K 19/077 (2006.01)
Déposants : SANDISK CORPORATION [US/US]; 140 Caspian Court, Sunnyvale, CA 94089 (US).
TAKIAR, Hem, P. [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : TAKIAR, Hem, P.; (US)
Mandataire : MAGEN, Burt; Vierra Magen Marcus Harmon & DeNiro, LLP, Suite 540, 685 Market Street, San Francisco, CA 94105 (US)
Données relatives à la priorité :
10/621,882 17.07.2003 US
Titre (EN) PERIPHERAL CARD WITH HIDDEN TEST PINS
(FR) CARTE PERIPHERIQUE AVEC BROCHES DE TEST CACHEES
Abrégé : front page image
(EN)A peripheral card (200) includes a circuit board, various circuit elements on the circuit board, a set of user terminals, a set of test terminals, and an enclosure that covers a portion of the circuit board and the circuit elements. The enclosure does not cover the user terminals (230) and test terminals (232). After the peripheral card is tested, the test terminals (232) are covered with a conformal contact coating in order to prevent access to the test terminals.
(FR)Cette invention se rapporte à une carte périphérique (200) constituée par une carte à circuit, par divers éléments de circuit placés sur la carte à circuit, par un ensemble de bornes d'utilisateur, par un ensemble de bornes de test et par une enveloppe qui recouvre une partie de la carte à circuit et des éléments de circuit. Cette enveloppe ne couvre pas les bornes d'utilisateur (230) et les bornes de test (232). Une fois que la carte périphérique a été testée, les bornes de test (232) sont recouvertes par un revêtement de contact conformé, destiné à empêcher tout accès aux bornes de tests.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)