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Paramétrages

Paramétrages

1. WO2005006347 - SONDES FONCTIONNALISEES A L'AIDE DE NANOPARTICULES ET PROCEDES PERMETTANT DE PREPARER DE TELLES SONDES

Numéro de publication WO/2005/006347
Date de publication 20.01.2005
N° de la demande internationale PCT/IL2004/000613
Date du dépôt international 08.07.2004
CIB
G01N 21/64 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
62Systèmes dans lesquels le matériau analysé est excité de façon à ce qu'il émette de la lumière ou qu'il produise un changement de la longueur d'onde de la lumière incidente
63excité optiquement
64Fluorescence; Phosphorescence
G01N 21/65 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
62Systèmes dans lesquels le matériau analysé est excité de façon à ce qu'il émette de la lumière ou qu'il produise un changement de la longueur d'onde de la lumière incidente
63excité optiquement
65Diffusion de Raman
G01Q 10/00 2010.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
QTECHNIQUES OU APPAREILS À SONDE À BALAYAGE; APPLICATIONS DES TECHNIQUES DE SONDE À BALAYAGE, p.ex. MICROSCOPIE À SONDE À BALAYAGE
10Dispositions pour le balayage ou le positionnement, c. à d. dispositions pour commander de manière active le mouvement ou la position de la sonde
G01Q 70/16 2010.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
QTECHNIQUES OU APPAREILS À SONDE À BALAYAGE; APPLICATIONS DES TECHNIQUES DE SONDE À BALAYAGE, p.ex. MICROSCOPIE À SONDE À BALAYAGE
70Aspects généraux des sondes SPM, leur fabrication ou leur instrumentation correspondante, dans la mesure où ces sondes ne sont pas spécialement adaptées à une seule technique SPM couverte par le groupe G01Q60/230
16Fabrication des sondes
G01Q 70/18 2010.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
QTECHNIQUES OU APPAREILS À SONDE À BALAYAGE; APPLICATIONS DES TECHNIQUES DE SONDE À BALAYAGE, p.ex. MICROSCOPIE À SONDE À BALAYAGE
70Aspects généraux des sondes SPM, leur fabrication ou leur instrumentation correspondante, dans la mesure où ces sondes ne sont pas spécialement adaptées à une seule technique SPM couverte par le groupe G01Q60/230
16Fabrication des sondes
18Fonctionnalisation
CPC
G01N 2021/6439
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible or ultra-violet light
62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
63optically excited
64Fluorescence; Phosphorescence
6428Measuring fluorescence of fluorescent products of reactions or of fluorochrome labelled reactive substances, e.g. measuring quenching effects, using measuring "optrodes"
6439with indicators, stains, dyes, tags, labels, marks
G01N 2021/6441
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible or ultra-violet light
62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
63optically excited
64Fluorescence; Phosphorescence
6428Measuring fluorescence of fluorescent products of reactions or of fluorochrome labelled reactive substances, e.g. measuring quenching effects, using measuring "optrodes"
6439with indicators, stains, dyes, tags, labels, marks
6441with two or more labels
G01N 2021/656
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible or ultra-violet light
62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
63optically excited
65Raman scattering
653Coherent methods [CARS]
656Raman microprobe
G01N 21/6428
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible or ultra-violet light
62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
63optically excited
64Fluorescence; Phosphorescence
6428Measuring fluorescence of fluorescent products of reactions or of fluorochrome labelled reactive substances, e.g. measuring quenching effects, using measuring "optrodes"
G01N 21/6458
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible or ultra-violet light
62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
63optically excited
64Fluorescence; Phosphorescence
645Specially adapted constructive features of fluorimeters
6456Spatial resolved fluorescence measurements; Imaging
6458Fluorescence microscopy
G01N 21/6489
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible or ultra-violet light
62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
63optically excited
64Fluorescence; Phosphorescence
6489Photoluminescence of semiconductors
Déposants
  • YISSUM RESEARCH DEVELOPMENT COMPANY OF THE HEBREW UNIVERSITY OF JERUSALEM [IL/IL]; Hi Tech Park Edmond Safra Campus Givat Ram 91390 Jerusalem, IL (AllExceptUS)
  • BANIN, Uri [IL/IL]; IL (UsOnly)
  • MOKARI, Taleb [IL/IL]; IL (UsOnly)
  • EBENSTEIN, Yuval [IL/IL]; IL (UsOnly)
Inventeurs
  • BANIN, Uri; IL
  • MOKARI, Taleb; IL
  • EBENSTEIN, Yuval; IL
Mandataires
  • REINHOLD COHN AND PARTNERS; P.O.B. 4060 61040 Tel Aviv, IL
Données relatives à la priorité
60/485,73110.07.2003US
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) NANOPARTICLES FUNCTIONALIZED PROBES AND METHODS FOR PREPARING SUCH PROBES
(FR) SONDES FONCTIONNALISEES A L'AIDE DE NANOPARTICULES ET PROCEDES PERMETTANT DE PREPARER DE TELLES SONDES
Abrégé
(EN)
The present invention provides probes functionalized with nanoparticles, methods for binding nanoparticles to the probes and the use of such probes in nanometer scale imaging techniques. More specifically, the present invention provides a tip device having at least a portion thereof with an outer surface bound to at least one sub-layer of a material comprising nanoparticles, the nanoparticles acting as donors, acceptors, modifiers, quenchers and/or enhancers with respect to electromagnetic radiation.
(FR)
L'invention concerne des sondes fonctionnalisées à l'aide de nanoparticules, des procédés permettant la fixation de nanoparticules sur les sondes, et l'utilisation de telles sondes dans des techniques d'imagerie à l'échelle nanométrique. L'invention concerne de manière plus spécifique une pointe-sonde dont une partie au moins présente une surface externe liée à au moins une sous-couche d'un matériau comprenant des nanoparticules, ces dernières agissant comme donneurs, accepteurs, modificateurs, extincteurs et/ou amplificateurs du rayonnement électromagnétique.
Également publié en tant que
US2007035724
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international