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Paramétrages

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1. WO2005006001 - SYSTEME DE DIAGNOSTIC POUR POTENTIOMETRE

Numéro de publication WO/2005/006001
Date de publication 20.01.2005
N° de la demande internationale PCT/EP2004/007086
Date du dépôt international 30.06.2004
CIB
G01R 27/02 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
27Dispositions pour procéder aux mesures de résistance, de réactance, d'impédance, ou de caractéristiques électriques qui en dérivent
02Mesure de résistances, de réactances, d'impédances réelles ou complexes, ou autres caractéristiques bipolaires qui en dérivent, p.ex. constante de temps
G01R 27/20 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
27Dispositions pour procéder aux mesures de résistance, de réactance, d'impédance, ou de caractéristiques électriques qui en dérivent
02Mesure de résistances, de réactances, d'impédances réelles ou complexes, ou autres caractéristiques bipolaires qui en dérivent, p.ex. constante de temps
20Mesure d'une résistance de terre; Mesure de la résistance de contact de connexions au sol, p.ex. de plaques
CPC
G01R 27/02
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
27Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
02Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
G01R 27/205
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
27Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
02Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
20Measuring earth resistance; Measuring contact resistance, ; e.g.; of earth connections, e.g. plates
205Measuring contact resistance of connections, e.g. of earth connections
Déposants
  • PREH GMBH [DE/DE]; An der Stadthalle 97616 Bad Neustadt a.d. Saale, DE (AllExceptUS)
  • RÜTTIGER, Anton [DE/DE]; DE (UsOnly)
Inventeurs
  • RÜTTIGER, Anton; DE
Mandataires
  • THUL, Hermann; Rheinmetall AG Patentabteilung Rheinmetall Allee 1 40476 Düsseldorf, DE
Données relatives à la priorité
103 31 628.012.07.2003DE
Langue de publication allemand (DE)
Langue de dépôt allemand (DE)
États désignés
Titre
(DE) POTENTIOMETERDIAGNOSE
(EN) POTENTIOMETER DIAGNOSIS
(FR) SYSTEME DE DIAGNOSTIC POUR POTENTIOMETRE
Abrégé
(DE)
Die Erfindung betrifft eine Diagnoseschaltung für ein Potentiometer, insbesondere für die Bereiche an einem Potentiometer, in denen undefinierte Zustände auftreten. Es wird vorgeschlagen, durch Zuschaltung eines Lastwiderstandes (Messwiderstandes) am Schleifer (6) des Potentiometers (10) den Übergangswiderstand (RÜ) beim Verstellen des Potentiometerschleifers bzw. Verharren des Schleifers auf dem kritischen Punkt (6) laufend mittels der Messwerte im belasteten bzw. im unbelasteten Zustand zu vergleichen. Schaltungstechnisch lässt sich dies sehr einfach ausführen, beispielsweise durch das Schalten eines Pull-Up Widerstandes am Eingang (E2) des Mikroprozessores (12), auf den ein Lastwiderstand (7) geschaltet ist und der mit dem Schleifer (6) elektrisch verbunden ist. Der Schleifer (6) selbst ist auf einen weiteren Eingang (E2) des Mikroprozessors (12) gelegt.
(EN)
The invention relates to a diagnostic circuit for a potentiometer, especially for the areas of a potentiometer in which undefined states occur. The aim of the invention is to connect a load resistor (laboratory resistor) to the potentiometer (10) slider (6) so as to be able to constantly compare the contact resistance (RU) by means of the measured values in the loaded and unloaded state when displacing the slider or resting the same at the critical point (6). Said aim can easily be achieved from a circuitry perspective, e.g. by connecting a pull-up resistor to the input (E2) of the microprocessor (12) to which a load resistor (7) is connected and which is electrically connected to the slider (6), the slider (6) being connected to another input (E2) of the microprocessor (12).
(FR)
L'invention concerne un circuit de diagnostic destiné à un potentiomètre, en particulier pour les zones d'un potentiomètre dans lesquelles apparaissent des états non définis. Selon l'invention, la résistance de contact (Rü) est comparée de façon continue lors du déplacement du curseur du potentiomètre ou lorsque ledit curseur reste sur le point critique (6) au moyen des valeurs mesurées à l'état chargé ou non chargé par raccordement d'une résistance de charge (résistance de précision) au niveau du curseur (6) du potentiomètre (10). D'un point de vue technique, ce circuit est extrêmement simple à réaliser, par exemple par raccordement d'une résistance de polarisation à l'alimentation au niveau de l'entrée (E2) du microprocesseur (12) sur laquelle est montée une résistance de charge (7) et qui est reliée électriquement au curseur (6). Le curseur (6) est lui-même placé sur une autre entrée (E2) du microprocesseur (12).
Également publié en tant que
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