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Paramétrages

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1. WO2005003744 - PROCEDE DE MESURE DE COMPOSANTS SPECIFIQUES PAR MESURE SPECTRALE

Numéro de publication WO/2005/003744
Date de publication 13.01.2005
N° de la demande internationale PCT/JP2004/008711
Date du dépôt international 21.06.2004
CIB
G01N 21/78 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
75Systèmes dans lesquels le matériau est soumis à une réaction chimique, le progrès ou le résultat de la réaction étant analysé
77en observant l'effet sur un réactif chimique
78produisant un changement de couleur
CPC
G01N 21/76
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible or ultra-violet light
75Systems in which material is subjected to a chemical reaction, the progress or the result of the reaction being investigated
76Chemiluminescence; Bioluminescence
G01N 2201/023
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
2201Features of devices classified in G01N21/00
02Mechanical
023Controlling conditions in casing
Déposants
  • 和光純薬工業株式会社 WAKO PURE CHEMICAL INDUSTRIES, LTD. [JP/JP]; 〒5408605 大阪府大阪市中央区道修町三丁目1番2号 Osaka 1-2, Doshomachi 3-chome, Chuo-ku, Osaka-shi Osaka 5408605, JP (AllExceptUS)
  • 藤田 崇 FUJITA, Takashi [JP/JP]; JP (UsOnly)
  • 山本 幸子 YAMAMOTO, Sachiko [JP/JP]; JP (UsOnly)
  • 山田 浩之 YAMADA, Hiroyuki [JP/JP]; JP (UsOnly)
  • 赤羽 和 AKAHANE, Wataru [JP/JP]; JP (UsOnly)
Inventeurs
  • 藤田 崇 FUJITA, Takashi; JP
  • 山本 幸子 YAMAMOTO, Sachiko; JP
  • 山田 浩之 YAMADA, Hiroyuki; JP
  • 赤羽 和 AKAHANE, Wataru; JP
Données relatives à la priorité
2003-27079703.07.2003JP
2004-10657731.03.2004JP
Langue de publication japonais (JA)
Langue de dépôt japonais (JA)
États désignés
Titre
(EN) SPECIFIC COMPONENT MEASURING METHOD BY SPECTRAL MEASUREMENT
(FR) PROCEDE DE MESURE DE COMPOSANTS SPECIFIQUES PAR MESURE SPECTRALE
(JA) 分光測定による特定成分の測定方法
Abrégé
(EN)
A measuring method chracterized by comprising the steps of measuring light produced by the energy variation of a substance caused by a specific component in a sample while preventing charges in an atmosphere in a photometry chamber from moving onto the surface of a solution on which the light is produced, and determing the amount of the specific component based on the measurement; and a device used for the method. The measuring method can solve such problems as day-to-day variations in signal value, and background becoming higher in measuring a specific component in a sample by using a spectral measurement device, and can measure a trace amount of a component with high accuracy and high sensitivity.
(FR)
L'invention a trait à un procédé de mesure, caractérisé en ce qu'il comprend les étapes consistant : à mesurer la lumière produite par la variation énergétique d'une substance due à un composant spécifique dans un échantillon, tout en empêchant les charges d'une atmosphère dans une chambre photométrique de gagner la surface d'une solution sur laquelle la lumière est produite ; et à déterminer la quantité du composant spécifique sur la base de la mesure. L'invention concerne également un dispositif permettant de mettre en oeuvre ledit procédé. Le procédé de mesure selon l'invention permet de régler des problèmes tels que les variations journalières de la valeur du signal et l'augmentation du bruit de fond lors de la mesure d'un composant spécifique dans un échantillon, et ce par l'utilisation d'un dispositif de mesure spectrale, et permet de mesurer une quantité minime d'un composant avec une grande précision et une grande sensibilité.
(JA)
 試料中の特定成分に起因する物質のエネルギー変動により光を生じさせる溶液表面に、測光室内の雰囲気中の電荷が移動することを防止して当該光を測定し、その測定値に基づいて当該特定成分の量を求めることを特徴とする測定方法及びそれに用いられる装置を開示する。  本発明に係る測定方法によれば、分光測定装置を用いて行う試料中の特定成分の測定に於いて、シグナル値の日差変動が起きることや、バックグラウンドが高くなる等の問題を解決し、微量成分を高精度且つ高感度の測定を行うことができる。
Également publié en tant que
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