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Paramétrages

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1. WO2005001452 - PROCEDE DE MESURE D'UN REVETEMENT AU MOYEN D'UNE REFLECTANCE INFRAROUGE A DEUX LONGUEURS D'ONDE

Numéro de publication WO/2005/001452
Date de publication 06.01.2005
N° de la demande internationale PCT/US2004/019950
Date du dépôt international 16.06.2004
CIB
G01B 11/06 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
BMESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
11Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de moyens optiques
02pour mesurer la longueur, la largeur ou l'épaisseur
06pour mesurer l'épaisseur
CPC
G01B 11/0625
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
11Measuring arrangements characterised by the use of optical means
02for measuring length, width or thickness
06for measuring thickness, e.g. of sheet material
0616of coating
0625with measurement of absorption or reflection
Déposants
  • THE BOEING COMPANY [US/US]; P.O. Box 3707, M/S 11-XT Seattle, WA 98124-2207, US (AllExceptUS)
Inventeurs
  • ALLEN, Rex, H.; US
  • GRAEBNER, Kim, E.; US
Mandataires
  • GALBRAITH, Ann, K.; The Boeing Company P.O. Box 3707, M/S 11-XT Seattle, WA 98124-2207, US
Données relatives à la priorité
10/601,04420.06.2003US
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) METHOD OF MEASURING COATING USING TWO-WAVELENGTH INFRARED REFLECTANCE
(FR) PROCEDE DE MESURE D'UN REVETEMENT AU MOYEN D'UNE REFLECTANCE INFRAROUGE A DEUX LONGUEURS D'ONDE
Abrégé
(EN)
A non-destructive method is provided for measuring a non-scattering coating (24) on a non-specular or specular surface of a metallic substrate (22). The surface may be a rough surface, such as a chemically milled surface. Infrared energy (31) is transmitted into an integrating sphere (48) that is in physical contact with a sample of the coating (24) on the metallic substrate (22). The infrared energy (31) is partially absorbed by the coating (24). The infrared energy (31) is in part specularly reflected by the metallic substrate (22) and is in part scattered by the metallic substrate (22) depending on the wavelength of the infrared radiation (31). The integrating sphere (48) integrates and collects total reflectance (52) of the infrared energy (31). Infrared detectors (30) detect the total reflectance (52) at two wavelength bands (47, 49). A decrease in total reflectance (52, 80) in one of the two wavelength bands (47, 49) indicates presence of the coating (24) or may be mapped to an amount of the coating (24). The difference between the intensity of energy levels of the collected total reflectance (52, 80) at the two wavelength bands (47, 49) is proportional to the amount of the coating (24).
(FR)
L'invention concerne un procédé non destructeur permettant de mesurer un revêtement non dispersable (24) sur une surface spéculaire ou non spéculaire d'un substrat métallique (22). Ladite surface peut être une surface rugueuse, telle qu'une surface chimiquement matte. De l'énergie infrarouge (31) est transmise dans une sphère d'intégration (48) en contact physique avec un échantillon du revêtement (24) sur le substrat métallique (22). L'énergie infrarouge (31) est partiellement absorbée par le revêtement (24). Ladite énergie infrarouge (31) est, en partie, réfléchie de manière spéculaire par le substrat métallique (22) et elle est, en partie, diffusée par le substrat métallique (22) en fonction de la longueur d'onde du rayonnement infrarouge (31). Ladite sphère d'intégration (48) sert à intégrer et recueillir l'ensemble de la réflectance (52) de l'énergie infrarouge (31). Des détecteurs à infrarouge (30) permettent de détecter la réflectance totale (52) au niveau de deux bandes de longueurs d'onde (47, 49). Une diminution de la réflectance totale (52, 80) dans une des deux bandes de longueurs d'onde (47, 49) indique la présence du revêtement (24) ou peut être ajustée à une certaine quantité du revêtement (24). La différence entre l'intensité des niveaux d'énergie de la réflectance totale recueillie (52, 80) au niveau des deux bandes de longueurs d'onde (47, 49) est proportionnelle à la quantité du revêtement (24).
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