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1. WO2004102664 - CIRCUIT DE FUSIBLES ET DISPOSITIF DE CIRCUIT INTEGRE A SEMI-CONDUCTEURS

Numéro de publication WO/2004/102664
Date de publication 25.11.2004
N° de la demande internationale PCT/JP2003/005962
Date du dépôt international 13.05.2003
CIB
G11C 17/16 2006.01
GPHYSIQUE
11ENREGISTREMENT DE L'INFORMATION
CMÉMOIRES STATIQUES
17Mémoires mortes programmables une seule fois; Mémoires semi-permanentes, p.ex. cartes d'information pouvant être replacées à la main
14dans lesquelles le contenu est déterminé en établissant, en rompant ou en modifiant sélectivement les liaisons de connexion par une modification définitive de l'état des éléments de couplage, p.ex. mémoires PROM
16utilisant des liaisons électriquement fusibles
CPC
G11C 17/16
GPHYSICS
11INFORMATION STORAGE
CSTATIC STORES
17Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards
14in which contents are determined by selectively establishing, breaking or modifying connecting links by permanently altering the state of coupling elements, e.g. PROM
16using electrically-fusible links
G11C 17/165
GPHYSICS
11INFORMATION STORAGE
CSTATIC STORES
17Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards
14in which contents are determined by selectively establishing, breaking or modifying connecting links by permanently altering the state of coupling elements, e.g. PROM
16using electrically-fusible links
165Memory cells which are electrically programmed to cause a change in resistance, e.g. to permit multiple resistance steps to be programmed rather than conduct to or from non-conduct change of fuses and antifuses
G11C 17/18
GPHYSICS
11INFORMATION STORAGE
CSTATIC STORES
17Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards
14in which contents are determined by selectively establishing, breaking or modifying connecting links by permanently altering the state of coupling elements, e.g. PROM
18Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
G11C 5/143
GPHYSICS
11INFORMATION STORAGE
CSTATIC STORES
5Details of stores covered by G11C11/00
14Power supply arrangements
143Detection of memory cassette insertion/removal; Continuity checks of supply and ground lines
H01L 27/10894
HELECTRICITY
01BASIC ELECTRIC ELEMENTS
LSEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
27Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
02including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier
04the substrate being a semiconductor body
10including a plurality of individual components in a repetitive configuration
105including field-effect components
108Dynamic random access memory structures
10844Multistep manufacturing methods
10894with simultaneous manufacture of periphery and memory cells
Déposants
  • FUJITSU LIMITED [JP]/[JP] (AllExceptUS)
  • KOBAYASHI, Hiroyuki [JP]/[JP] (UsOnly)
  • UCHIDA, Toshiya [JP]/[JP] (UsOnly)
Inventeurs
  • KOBAYASHI, Hiroyuki
  • UCHIDA, Toshiya
Mandataires
  • AOKI, Atsushi
Données relatives à la priorité
Langue de publication japonais (JA)
Langue de dépôt japonais (JA)
États désignés
Titre
(EN) FUSE CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE
(FR) CIRCUIT DE FUSIBLES ET DISPOSITIF DE CIRCUIT INTEGRE A SEMI-CONDUCTEURS
(JA) ヒューズ回路および半導体集積回路装置
Abrégé
(EN)
A fuse circuit having an actual fuse circuit part, and a fuse monitor circuit. The actual fuse circuit part stores fuse information, and the fuse monitor circuit monitors the power supply voltage to determine whether it has a level sufficient for taking in the fuse information correctly from the actual fuse circuit part.
(FR)
L'invention porte sur un circuit de fusibles possédant une partie finie et un circuit de contrôle des fusibles. La partie finie du circuit de fusibles stocke des informations sur les fusibles et le circuit de contrôle des fusibles contrôle la tension d'alimentation électrique afin de déterminer si elle a un niveau suffisant pour rentrer correctement les informations sur les fusibles à partir de la partie finie du circuit de fusibles.
(JA)
ヒューズ回路は、実ヒューズ回路部と、ヒューズモニター回路とを有する。実ヒューズ回路部は、ヒューズ情報を記憶し、また、ヒューズモニター回路は、電源電圧が実ヒューズ回路部からのヒューズ情報を正しく取り込むことが可能な取り込み可能電圧になったかどうかをモニターする。
Également publié en tant que
US11091455
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