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1. WO2004102582 - SONDES A BASE DE NANOTUBES DE CARBONE, DISPOSITIFS APPARENTES ET PROCEDES POUR REALISER CES SONDES

Numéro de publication WO/2004/102582
Date de publication 25.11.2004
N° de la demande internationale PCT/US2004/006624
Date du dépôt international 05.03.2004
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 05.01.2005
CIB
G01Q 60/24 2010.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
QTECHNIQUES OU APPAREILS À SONDE À BALAYAGE; APPLICATIONS DES TECHNIQUES DE SONDE À BALAYAGE, p.ex. MICROSCOPIE À SONDE À BALAYAGE
60Types particuliers de microscopie à sonde à balayage SPM ou appareils à cet effet; Composants essentiels de ceux-ci
24Microscopie à forces atomiques AFM ou appareils à cet effet, p.ex. sondes AFM
G01Q 60/50 2010.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
QTECHNIQUES OU APPAREILS À SONDE À BALAYAGE; APPLICATIONS DES TECHNIQUES DE SONDE À BALAYAGE, p.ex. MICROSCOPIE À SONDE À BALAYAGE
60Types particuliers de microscopie à sonde à balayage SPM ou appareils à cet effet; Composants essentiels de ceux-ci
50Microscopie à forces magnétiques MFM ou appareils à cet effet, p.ex. sondes MFM
G01Q 70/12 2010.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
QTECHNIQUES OU APPAREILS À SONDE À BALAYAGE; APPLICATIONS DES TECHNIQUES DE SONDE À BALAYAGE, p.ex. MICROSCOPIE À SONDE À BALAYAGE
70Aspects généraux des sondes SPM, leur fabrication ou leur instrumentation correspondante, dans la mesure où ces sondes ne sont pas spécialement adaptées à une seule technique SPM couverte par le groupe G01Q60/230
08Caractéristiques des sondes
10Forme ou cônicité
12Pointes de nanotubes
G01Q 70/16 2010.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
QTECHNIQUES OU APPAREILS À SONDE À BALAYAGE; APPLICATIONS DES TECHNIQUES DE SONDE À BALAYAGE, p.ex. MICROSCOPIE À SONDE À BALAYAGE
70Aspects généraux des sondes SPM, leur fabrication ou leur instrumentation correspondante, dans la mesure où ces sondes ne sont pas spécialement adaptées à une seule technique SPM couverte par le groupe G01Q60/230
16Fabrication des sondes
CPC
G01Q 60/38
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
QSCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
60Particular types of SPM [Scanning Probe Microscopy] or microscopes; Essential components thereof
24AFM [Atomic Force Microscopy] or apparatus therefor, e.g. AFM probes
38Probes, their manufacture, or their related instrumentation, e.g. holders
G01Q 60/54
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
QSCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
60Particular types of SPM [Scanning Probe Microscopy] or microscopes; Essential components thereof
50MFM [Magnetic Force Microscopy] or apparatus therefor, e.g. MFM probes
54Probes, their manufacture, or their related instrumentation, e.g. holders
G01Q 70/12
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
QSCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
70General aspects of SPM probes, their manufacture or their related instrumentation, insofar as they are not specially adapted to a single SPM technique covered by group G01Q60/00
08Probe characteristics
10Shape or taper
12Nanotube tips
Déposants
  • UNIVERSITY OF FLORIDA [US]/[US] (AllExceptUS)
  • RINZLER, Andrew, G. [US]/[US] (AllExceptUS)
  • PATIL, Amol [IN]/[US] (AllExceptUS)
Inventeurs
Mandataires
  • JETTER, Neil, R.
Données relatives à la priorité
60/452,00005.03.2003US
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) CARBON NANOTUBE-BASED PROBES, RELATED DEVICES AND METHODS OF FORMING THE SAME
(FR) SONDES A BASE DE NANOTUBES DE CARBONE, DISPOSITIFS APPARENTES ET PROCEDES POUR REALISER CES SONDES
Abrégé
(EN)
A device for high resolution probing of a surface includes a support member, and an extension portion attached to a distal end of the support member. A core of the extension portion is electrically connected to the support member. The core is a carbon nanotube in the case of an AFM probe or a ferromagnetic composition in the case of an MFM probe. An electrically insulating sheath layer is disposed on a portion of the core, wherein the tip portion of the core opposite the support member does not include the sheath layer.
(FR)
L'invention concerne un dispositif servant au sondage haute résolution d'une surface et comprenant un élément support et un segment d'extension relié à l'extrémité distale de l'élément support. Un coeur du segment d'extension est relié électriquement à l'élément support. Ce coeur est un nanotube de carbone dans le cas d'une sonde AFM ou une composition ferromagnétique dans le cas d'une sonde MFM. Une couche enveloppe isolante électriquement est placée sur une partie du coeur, l'extrémité du coeur opposée à l'élément support ne présentant pas la couche enveloppe.
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