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1. (WO2004102109) INTERFEROMETRIE A FAIBLE COHERENCE POUR APPAREIL ET PROCEDE DE SPECTROSCOPIE PAR DIFFUSION DE LA LUMIERE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2004/102109    N° de la demande internationale :    PCT/US2004/014070
Date de publication : 25.11.2004 Date de dépôt international : 06.05.2004
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    06.12.2004    
CIB :
G01N 15/02 (2006.01)
Déposants : DUKE UNIVERSITY [US/US]; 2020 West Main Street, P.O. Box 90082, Durham, NC 27708-0093 (US) (Tous Sauf US).
WAX, Adam [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : WAX, Adam; (US)
Mandataire : VAZQUEZ, Rene, A.; Fleshner & Kim, LLP, P.O. Box 221200, Chantilly, VA 20153-1200 (US)
Données relatives à la priorité :
10/429,756 06.05.2003 US
Titre (EN) FOURIER DOMAIN LOW-COHERENCE INTERFEROMETRY FOR LIGHT SCATTERING SPECTROSCOPY APPARATUS AND METHOD
(FR) INTERFEROMETRIE A FAIBLE COHERENCE POUR APPAREIL ET PROCEDE DE SPECTROSCOPIE PAR DIFFUSION DE LA LUMIERE
Abrégé : front page image
(EN)An apparatus and method for obtaining depth-resolved spectra for the purpose of determining the size of scatterers by measuring their elastic scattering properties. Depth resolution is achieved by using a white light source (100) in a Michelson interferometer (10) and dispersing a mixed signal and reference fields. The measured spectrum is Fourier transformed to obtain an axial spatial cross-correlation between the signal and reference fields with near 1 mm depth-resolution. The spectral dependence of scattering by the sample (108) is determined by windowing the spectrum to measure the scattering amplitude as a function of wavenumber.
(FR)L'invention concerne un appareil et un procédé permettant d'obtenir des spectres à résolution axiale dans le but de déterminer la taille des diffuseurs en mesurant leur propriétés de diffusion élastique. Pour obtenir cette résolution axiale, on utilise une source de lumière blanche dans un interféromètre de Michelson et on disperse un signal mélangé et des champs de référence. Le spectre mesuré est soumis à une transformation de Fourier afin d'obtenir une corrélation croisée spatiale axiale entre le signal et les champs de référence présentant une résolution axiale proche de 1 µm. Pour déterminer la dépendance spectrale de la diffusion par l'échantillon, on procède au fenêtrage du spectre afin de mesurer l'amplitude de diffusion en fonction du nombre d'ondes.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)