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1. WO2004099802 - PROCÉDÉ POUR TESTER DES PLAQUETTES SANS BARRETTES DE MÉMOIRE

Numéro de publication WO/2004/099802
Date de publication 18.11.2004
N° de la demande internationale PCT/EP2004/002420
Date du dépôt international 09.03.2004
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 17.11.2004
CIB
G01R 31/28 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31Dispositions pour tester les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour tests électriques caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
28Test de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux
CPC
G01R 1/06705
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
1Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
02General constructional details
06Measuring leads; Measuring probes
067Measuring probes
06705Apparatus for holding or moving single probes
G01R 1/06794
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
1Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
02General constructional details
06Measuring leads; Measuring probes
067Measuring probes
06794Devices for sensing when probes are in contact, or in position to contact, with measured object
G01R 31/2805
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
2801Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
2805Bare printed circuit boards
Déposants
  • ATG TEST SYSTEM GMBH & CO. KG [DE]/[DE] (AllExceptUS)
  • ROMANOV, Victor [RU]/[DE] (UsOnly)
  • YUSCHUK, Oleh [UA]/[DE] (UsOnly)
Inventeurs
  • ROMANOV, Victor
  • YUSCHUK, Oleh
Mandataires
  • GANAHL, Bernhard
Données relatives à la priorité
103 20 925.509.05.2003DE
Langue de publication allemand (DE)
Langue de dépôt allemand (DE)
États désignés
Titre
(DE) VERFAHREN ZUM TESTEN VON UNBESTÜCKTEN LEITERPLATTEN
(EN) METHOD FOR TESTING EMPTY PRINTED CIRCUIT BOARDS
(FR) PROCÉDÉ POUR TESTER DES PLAQUETTES SANS BARRETTES DE MÉMOIRE
Abrégé
(DE)
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Testen von Leiterplatten, inbesondere von unbestückten Leiterplatten. Beim erfindungsgemässen Verfahren wird das Niveau der Oberfläche einer zu testenden Leiterplatten bei einem Kontaktierungsvorgang automatisch erfasst und die weiteren Kontaktierungsvorgänge werden dann nach Massgabe des erfassten Niveau angesteuert. Hierdurch erfolgt bei der Ansteuerung der Bewegung der Prüfsonden des Fingertesters eine automatische Anpassung an das Niveau, was insbesondere beim Testen von biegsamen Leiterplatten von Vorteil ist, da deren Oberfläche eine dreidimensionale Form ausbilden kann.
(EN)
The invention relates to a method for testing printed circuit boards, in particular empty printed circuit boards. The inventive method consists in automatically detecting the surface level of a tested board during a bonding process, the other bonding processes are controlled according to a detected level. In this manner, the control of the test probes of a finger tester is automatically adapted to the level, which is advantageous for testing flexible boards whose surface can be embodied in a three-dimensional shape.
(FR)
L'invention concerne un procédé pour tester des cartes de circuits imprimés, notamment des plaquettes sans barrettes de mémoire. Selon ce procédé, le niveau de la surface d'une plaquette à tester est automatiquement saisi lors d'un processus de métallisation, les autres processus de métallisation étant commandés en fonction du niveau saisi. Ainsi, la commande du mouvement des sondes du testeur à patte est automatiquement adaptée au niveau, ce qui représente un avantage, notamment pour tester des plaquettes flexibles dont la surface peut présenter une forme tridimensionnelle.
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