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1. WO2004095041 - INTERFACE DE COMMUNICATION POUR DES CIRCUITS DE DIAGNOSTIC D'UN CIRCUIT INTEGRE

Numéro de publication WO/2004/095041
Date de publication 04.11.2004
N° de la demande internationale PCT/GB2003/004007
Date du dépôt international 17.09.2003
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 18.10.2004
CIB
G01R 31/3185 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31Dispositions pour tester les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour tests électriques caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
28Test de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux
317Tests de circuits numériques
3181Tests fonctionnels
3185Reconfiguration pour les essais, p.ex. LSSD, découpage
CPC
G01R 31/31713
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
317Testing of digital circuits
31712Input or output aspects
31713Input or output interfaces for test, e.g. test pins, buffers
G01R 31/318572
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
317Testing of digital circuits
3181Functional testing
3185Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning
318533using scanning techniques, e.g. LSSD, Boundary Scan, JTAG
318572Input/Output interfaces
G06F 13/4282
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
13Interconnection of, or transfer of information or other signals between, memories, input/output devices or central processing units
38Information transfer, e.g. on bus
42Bus transfer protocol, e.g. handshake; Synchronisation
4282on a serial bus, e.g. I2C bus, SPI bus
Déposants
  • ARM LIMITED [GB]/[GB]
Inventeurs
  • KIMELMAN, Paul
  • FIELD, Ian
Mandataires
  • ROBINSON, Nigel, Alexander, Julian
Données relatives à la priorité
10/417,33017.04.2003US
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) COMMUNICATION INTERFACE FOR DIAGNOSTIC CIRCUITS OF AN INTEGRATED CIRCUIT
(FR) INTERFACE DE COMMUNICATION POUR DES CIRCUITS DE DIAGNOSTIC D'UN CIRCUIT INTEGRE
Abrégé
(EN)
An integrated circuit is provided with diagnostic circuitry, such as serial scan chains or debug bus access circuits, with which communication is established using an interface circuit coupled with a bi-directional serial link to an external diagnostic device. The bi-directional serial link carries both data and control signals. The serial protocol can include provision for a pacing signal whereby the diagnostic circuitry can indicate to the external diagnostic device when it is ready to receive more data and/or when it has completed a particular diagnostic operation. This self-pacing ability is strongly advantageous. A training signal generated by the external diagnostic device may be detected by the interface circuit on initialisation and used to derive sampling point timings. Thus, the need to provide a separate clock signal can in such circumstances be avoided.
(FR)
L'invention porte sur un circuit intégré pourvu de circuits de diagnostic tels que des chaînes de balayage en série ou des circuits d'accès à des bus de mise au point avec lesquels une communication est établie à l'aide d'un circuit d'interface couplé avec une liaison série bidirectionnelle à un dispositif de diagnostic externe. La liaison série bidirectionnelle achemine à la fois des données et des signaux de commande. Le protocole série peut comprendre la génération d'un signal de stimulation, les circuits de diagnostic pouvant indiquer au dispositif de diagnostic externe que celui-ci est prêt pour recevoir plus de données et/ou qu'il a terminé une opération de diagnostic particulière. Cette capacité d'autostimulation est fortement avantageuse. Un signal d'entraînement généré par le dispositif de diagnostic externe peut être détecté par le circuit d'interface sur initialisation et utilisé pour dériver des moments donnés d'échantillonnage. On peut ainsi éviter d'avoir recours à un signal d'horloge séparé dans ces circonstances.
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