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1. (WO2004094983) PROCEDE ET INSTRUMENT DE MESURE DE CARACTERISTIQUE OPTIQUE, PROGRAMME ET SUPPORT D'ENREGISTREMENT SUR LEQUEL LE PROGRAMME EST ENREGISTRE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2004/094983    N° de la demande internationale :    PCT/JP2004/005758
Date de publication : 04.11.2004 Date de dépôt international : 22.04.2004
CIB :
G01M 11/02 (2006.01)
Déposants : ADVANTEST CORPORATION [JP/JP]; 32-1, Asahi-cho 1-chome Nerima-ku, Tokyo 179-0071 (JP) (Tous Sauf US).
NISIKAWA, Kenzi [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : NISIKAWA, Kenzi; (JP)
Mandataire : HOSODA, Masutoshi; Akasaka Twin Tower Main Tower 11F 17-22, Akasaka 2-chome Minato-ku, Tokyo 107-0052 (JP)
Données relatives à la priorité :
2003-119861 24.04.2003 JP
Titre (EN) OPTICAL CHARACTERISTIC MEASURING INSTRUMENT AND METHOD, PROGRAM, AND RECORD MEDIUM ON WHICH THE PROGRAM IS RECORDED
(FR) PROCEDE ET INSTRUMENT DE MESURE DE CARACTERISTIQUE OPTIQUE, PROGRAMME ET SUPPORT D'ENREGISTREMENT SUR LEQUEL LE PROGRAMME EST ENREGISTRE
(JA) 光特性測定装置、方法、プログラムおよび該プログラムを記録した記録媒体
Abrégé : front page image
(EN)The adverse effect of the deviation of a polarized component on measurement of an optical characteristic is prevented. A second measuring section (25) determines group delay times (&tgr;pg, &tgr;sg) of the incident light entering an optical fiber (18) from the exit light emerging from the optical fiber (18). If there is any deviation along the p- or s-polarization axis of the amplitude equivalent value (power) measured by a first measuring section (24) (namely, T112<<T212, T112>>T212, T122<<T222, T122>>T222), an optical characteristic measuring section (26) determines group delay times (&tgr;11, &tgr;21, &tgr;12, &tgr;22) from the components of the transfer function of the optical fiber (18). Therefore, even if there is any deviation along the p- or s-polarization axis of the amplitude equivalent value (power) measured by the first measuring section (24), the group delay times are determined on the basis of the results of measurement (not influenced by the deviation along the p- or s-polarization axis of the power) by the second measuring section (25). As a result, the adverse effect of the deviation of a polarized component on measurement of an optical characteristic is prevented.
(FR)L'effet négatif de l'écart d'une composant polarisée sur la mesure d'une caractéristique optique est empêché. Une seconde partie de mesure (25) détermine les temps de retard de groupe ($g(i)pg, $g(i)sg) de la lumière incidente pénétrant dans une fibre optique (18) à partir de la lumière de sortie émergeant de la fibre optique (18). En cas d'écart le long de l'axe de polarisation p- ou s- de la valeur équivalente d'amplitude (puissance) mesurée par une première partie de mesure (24) (à savoir T112$m(F)T212, T112$m(G)T212, T122$m(F)T222, T122$m(G)T222), une partie de mesure de caractéristique optique (26) détermine les temps de retard de groupe ($g(i)11, $g(i)21, $g(i)21,$g(i)12, $g(i)22)à partir des composantes de la fonction de transfert de la fibre optique (18). Ainsi, même s'il existe un écart le long de l'axe de polarisation p ou s de la valeur équivalente d'amplitude (puissance) mesurée par la première partie de mesure (24), les temps de retard de groupe sont déterminés sur la base des résultats de mesure (non influencés par l'écart le long de l'axe de polarisation p- ou s- de la puissance) par la seconde partie de mesure (25). Ainsi, l'effet négatif de l'écart d'une composante de polarisation sur la mesure d'une caractéristique optique est empêché.
(JA) 偏光成分の偏りによる光特性の測定への悪影響を防止する。 第二計測部25は、光ファイバ18から出射された光に基づき入射光の群遅延時間τpg、τsgを計測する。第一計測部24の振幅相当値(パワー)においてp偏光軸あるいはs偏光軸に偏りが見られた場合(T11 2≪T21 2、T11 2≫T21 2、T12 2≪T22 2、T12 2≫T22 2)、光特性測定部26は、群遅延時間τpg、τsgに光ファイバ18の伝達関数の成分に基づく群遅延時間τ11、τ21、τ12、τ22を測定する。よって、第一計測部24の振幅相当値(パワー)においてp偏光軸あるいはs偏光軸に偏りが見られたとしても、第二計測部25の計測結果(パワーのp偏光軸あるいはs偏光軸への偏りの影響を受けない)に基づき群遅延時間の測定が行われるので、偏光成分の偏りによる光特性の測定への悪影響が防止できる。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)