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1. (WO2004063664) PROCEDE ET DISPOSITIF DE CONTROLE DE SURFACE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2004/063664    N° de la demande internationale :    PCT/EP2004/000084
Date de publication : 29.07.2004 Date de dépôt international : 09.01.2004
CIB :
G01B 11/04 (2006.01), G01B 11/28 (2006.01), G01B 11/30 (2006.01), G01N 21/89 (2006.01)
Déposants : PARSYTEC COMPUTER GMBH [DE/DE]; Auf Der Hüls 183, 52068 Aachen (DE) (Tous Sauf US).
BURKHARDT, Steffen [DE/BE]; (BE) (US Seulement)
Inventeurs : BURKHARDT, Steffen; (BE)
Mandataire : KAHLHÖFER, Hermann; Karlstrasse 76, 40210 Düsseldorf (DE)
Données relatives à la priorité :
103 01 379.2 16.01.2003 DE
Titre (DE) OPTISCHES VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR OBERFLÄCHENKONTROLLE
(EN) OPTICAL METHOD AND DEVICE FOR INSPECTING SURFACES
(FR) PROCEDE ET DISPOSITIF DE CONTROLE DE SURFACE
Abrégé : front page image
(DE)Vorrichtung zur Kontrolle einer Oberfläche (2), beispielsweise in Bandform mit einem ersten Lichtsensor (12), der einer ersten Lichtquelle (5) zugeordnet ist und einem einer zweiten Lichtquelle (6) zugeordneten zweiten Lichtsensor (14), wobei die erste Lichtquelle (5) eine erste Teilfläche und die zweite Lichtquelle (6) eine zweite Teilfläche der zu kontrollierenden Oberfläche (2) beleuchten, wobei die erste Teilfläche eine erste zentrale Flächennormale (8) aufweist und die erste Lichtquelle (5) in einem ersten Einfallswinkel (10) und der erste Lichtsensor (12) in einem ersten Ausfallswinkel (13) zur ersten zentralen Flächennormalen (8) der ersten Teilfläche ausgerichtet sind und die zweite Lichtquelle (6) in einem zweiten Einfallswinkel (17) und der zweite Lichtsensor (14) in einem zweiten Ausfallswinkel (19) zur zweiten zentralen Flächennormalen (18) der zweiten Teilfläche ausgerichtet sind, wobei die erste Lichtquelle (5) zumindest in einer Raumrichtung paralleles Licht und die zweite Lichtquelle (6) ungerichtetes Licht abstrahlt. Die gemeinsame Auswertung der durch die Beleuchtung sowohl mit gerichtetem, als auch mit ungerichtetem Licht gewonnenen Daten führt in vorteilhafter Weise zu einer hohen Fehlererkennungsrate bei hoher Zuverlässigkeit der Oberflächenkontrolle.
(EN)The invention relates to a device for inspecting a surface (2), preferably strip-shaped, equipped with a first light sensor (12), which is assigned to a first light source (5), and with a second light sensor (14), which is assigned to a second light source (6). The first light source (5) illuminates a first partial area, and the second light source (6) illuminates a second partial area of the surface (2) to be inspected. The first partial area has a first central area normal line (8), and the first light source (5) is oriented with a first angle of incidence (10), and the first light sensor (12) is oriented with a first angle of reflection (13) to the first central area normal (8) of the first partial area. The second light source (6) is oriented with a second angle of incidence (17), and the second light sensor (14) is oriented with a second angle of reflection (19) to the second central area normal (18) of the second partial area. The first light source (5) radiates light, which is parallel at least in one direction in space, and the second light source (6) radiates undirected light. The mutual evaluation of the data obtained by illumination both with directed as well as undirected light advantageously leads to a high fault detection rate with a high reliability of the surface inspection.
(FR)L'invention concerne un dispositif de contrôle d'une surface (2) comprenant un premier capteur de lumière (12) qui est associé à une première source de lumière (5) et un deuxième capteur de lumière (14) associé à une deuxième source de lumière (6), la première source de lumière (5) éclairant une première surface partielle et la deuxième source de lumière (6) une deuxième source partielle de la surface à contrôler (2). La première surface partielle présente une première normale centrale à la surface (8) et la première source lumineuse (5) est orientée en formant un premier angle d'incidence (10) et le premier détecteur de lumière (12) est orienté en formant un premier angle de réflexion (13) avec la première normale centrale (8) à la première surface partielle. La deuxième source lumineuse (6) forme un deuxième angle d'incidence (17) et le deuxième capteur de lumière (14) un deuxième angle de réflexion (19) avec la deuxième normale centrale (18) à la deuxième surface partielle. La première source lumineuse (5) émet une lumière au moins dans une direction spatiale parallèle tandis que la deuxième source lumineuse (6) émet une lumière non dirigée. L'évaluation commune des données acquises par l'éclairage d'une lumière dirigée comme d'une lumière non dirigée permet d'obtenir avantageusement un taux de reconnaissance de défauts élevé pour une haute fiabilité du contrôle de surface.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : allemand (DE)
Langue de dépôt : allemand (DE)