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Paramétrages

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1. WO2004063664 - PROCEDE ET DISPOSITIF DE CONTROLE DE SURFACE

Numéro de publication WO/2004/063664
Date de publication 29.07.2004
N° de la demande internationale PCT/EP2004/000084
Date du dépôt international 09.01.2004
CIB
G01B 11/04 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
BMESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
11Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de moyens optiques
02pour mesurer la longueur, la largeur ou l'épaisseur
04spécialement adaptés pour mesurer la longueur ou la largeur d'objets en mouvement
G01B 11/28 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
BMESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
11Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de moyens optiques
28pour mesurer des superficies
G01B 11/30 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
BMESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
11Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de moyens optiques
30pour mesurer la rugosité ou l'irrégularité des surfaces
G01N 21/89 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
84Systèmes spécialement adaptés à des applications particulières
88Recherche de la présence de criques, de défauts ou de souillures
89dans un matériau mobile, p.ex. du papier, des textiles
CPC
G01B 11/04
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
11Measuring arrangements characterised by the use of optical means
02for measuring length, width or thickness
04specially adapted for measuring length or width of objects while moving
G01B 11/28
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
11Measuring arrangements characterised by the use of optical means
28for measuring areas
G01B 11/30
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
11Measuring arrangements characterised by the use of optical means
30for measuring roughness or irregularity of surfaces
G01N 21/8903
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
84Systems specially adapted for particular applications
88Investigating the presence of flaws or contamination
89in moving material, e.g. running paper or textiles
8901Optical details; Scanning details
8903using a multiple detector array
Déposants
  • PARSYTEC COMPUTER GMBH [DE]/[DE] (AllExceptUS)
  • BURKHARDT, Steffen [DE]/[BE] (UsOnly)
Inventeurs
  • BURKHARDT, Steffen
Mandataires
  • KAHLHÖFER, Hermann
Données relatives à la priorité
103 01 379.216.01.2003DE
Langue de publication allemand (DE)
Langue de dépôt allemand (DE)
États désignés
Titre
(DE) OPTISCHES VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR OBERFLÄCHENKONTROLLE
(EN) OPTICAL METHOD AND DEVICE FOR INSPECTING SURFACES
(FR) PROCEDE ET DISPOSITIF DE CONTROLE DE SURFACE
Abrégé
(DE)
Vorrichtung zur Kontrolle einer Oberfläche (2), beispielsweise in Bandform mit einem ersten Lichtsensor (12), der einer ersten Lichtquelle (5) zugeordnet ist und einem einer zweiten Lichtquelle (6) zugeordneten zweiten Lichtsensor (14), wobei die erste Lichtquelle (5) eine erste Teilfläche und die zweite Lichtquelle (6) eine zweite Teilfläche der zu kontrollierenden Oberfläche (2) beleuchten, wobei die erste Teilfläche eine erste zentrale Flächennormale (8) aufweist und die erste Lichtquelle (5) in einem ersten Einfallswinkel (10) und der erste Lichtsensor (12) in einem ersten Ausfallswinkel (13) zur ersten zentralen Flächennormalen (8) der ersten Teilfläche ausgerichtet sind und die zweite Lichtquelle (6) in einem zweiten Einfallswinkel (17) und der zweite Lichtsensor (14) in einem zweiten Ausfallswinkel (19) zur zweiten zentralen Flächennormalen (18) der zweiten Teilfläche ausgerichtet sind, wobei die erste Lichtquelle (5) zumindest in einer Raumrichtung paralleles Licht und die zweite Lichtquelle (6) ungerichtetes Licht abstrahlt. Die gemeinsame Auswertung der durch die Beleuchtung sowohl mit gerichtetem, als auch mit ungerichtetem Licht gewonnenen Daten führt in vorteilhafter Weise zu einer hohen Fehlererkennungsrate bei hoher Zuverlässigkeit der Oberflächenkontrolle.
(EN)
The invention relates to a device for inspecting a surface (2), preferably strip-shaped, equipped with a first light sensor (12), which is assigned to a first light source (5), and with a second light sensor (14), which is assigned to a second light source (6). The first light source (5) illuminates a first partial area, and the second light source (6) illuminates a second partial area of the surface (2) to be inspected. The first partial area has a first central area normal line (8), and the first light source (5) is oriented with a first angle of incidence (10), and the first light sensor (12) is oriented with a first angle of reflection (13) to the first central area normal (8) of the first partial area. The second light source (6) is oriented with a second angle of incidence (17), and the second light sensor (14) is oriented with a second angle of reflection (19) to the second central area normal (18) of the second partial area. The first light source (5) radiates light, which is parallel at least in one direction in space, and the second light source (6) radiates undirected light. The mutual evaluation of the data obtained by illumination both with directed as well as undirected light advantageously leads to a high fault detection rate with a high reliability of the surface inspection.
(FR)
L'invention concerne un dispositif de contrôle d'une surface (2) comprenant un premier capteur de lumière (12) qui est associé à une première source de lumière (5) et un deuxième capteur de lumière (14) associé à une deuxième source de lumière (6), la première source de lumière (5) éclairant une première surface partielle et la deuxième source de lumière (6) une deuxième source partielle de la surface à contrôler (2). La première surface partielle présente une première normale centrale à la surface (8) et la première source lumineuse (5) est orientée en formant un premier angle d'incidence (10) et le premier détecteur de lumière (12) est orienté en formant un premier angle de réflexion (13) avec la première normale centrale (8) à la première surface partielle. La deuxième source lumineuse (6) forme un deuxième angle d'incidence (17) et le deuxième capteur de lumière (14) un deuxième angle de réflexion (19) avec la deuxième normale centrale (18) à la deuxième surface partielle. La première source lumineuse (5) émet une lumière au moins dans une direction spatiale parallèle tandis que la deuxième source lumineuse (6) émet une lumière non dirigée. L'évaluation commune des données acquises par l'éclairage d'une lumière dirigée comme d'une lumière non dirigée permet d'obtenir avantageusement un taux de reconnaissance de défauts élevé pour une haute fiabilité du contrôle de surface.
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