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1. (WO2004059585) PROCEDE D'ANALYSE D'UNE PILE D'OBJETS PLATS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2004/059585    N° de la demande internationale :    PCT/NL2003/000943
Date de publication : 15.07.2004 Date de dépôt international : 24.12.2003
CIB :
G06M 1/10 (2006.01), G06M 9/00 (2006.01), G07D 7/00 (2006.01)
Déposants : SYNTECH HOLDINGS B.V. [NL/NL]; L.J. Costerstraat 6, NL-5916 PS Venlo (NL) (Tous Sauf US).
DONDERS, Paulina, Theodora, Gerarda [NL/NL]; (NL) (US Seulement)
Inventeurs : DONDERS, Paulina, Theodora, Gerarda; (NL)
Mandataire : DOHMEN, Johannes, Maria, Gerardus; Algemeen Octrooi-en Merkenbureau, P.O. Box 645, NL-5600 AP Eindhoven (NL)
Données relatives à la priorité :
1022257 24.12.2002 NL
Titre (EN) METHOD OF ANALYSING A STACK OF FLAT OBJECTS
(FR) PROCEDE D'ANALYSE D'UNE PILE D'OBJETS PLATS
Abrégé : front page image
(EN)The present invention relates to a method of analysing a stack of flat objects, which method comprises the steps of providing a stack of flat objects, which stack comprises at least one surface defined by the edges of flat objects, illuminating the surface of said stack, providing a two-dimensional image of the stack by making use of an optical sensor, and providing an output signal that represents the result of the analysis, wherein the provision of the two-dimensional image is carried out in such a manner that the image is enlarged in the y-direction and reduced in the x-direction, which y-direction is defined as the height of stack of flat objects and which x-direction is defined as the width of the stack of flat objects.
(FR)La présente invention concerne un procédé d'analyse d'une pile d'objets plats, qui consiste à prendre une pile d'objets plats, cette pile comprenant au moins une surface définie par les bords de ces objets plats, à éclairer la surface de cette pile, à obtenir une image en deux dimensions de cette pile au moyen d'un capteur optique et, à produire un signal représentant le résultat de l'analyse, la fourniture de l'image en deux dimensions étant réalisée de façon que cette image soit agrandie dans le sens y et réduite dans le sens x, le sens y étant défini comme la hauteur de la pile d'objets plats et le sens x étant défini comme la largeur de la pile d'objets plats.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NI, NO, NZ, OM, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : néerlandais; flamand (NL)