(EN) An excellent failure/no-failure test of devices can be realized by measuring the cross point of a differential clock signal CLK outputted from DUT and the timings of two data signals DATA to obtain a relative phase difference between the two signals. There are provided differential signal timing measuring means that outputs cross point information Tcross obtained by measuring the timing of the cross point of one differential output signal outputted from a device to be tested; non-differential signal timing measuring means that outputs data change point information Tdata obtained by measuring a transition timing at which the logic of the other non-differential output signal outputted from DUT transitions; phase difference calculating means that outputs a phase difference &Dgr;T obtained by calculating the relative phase difference between the cross point information Tcross obtained by measuring the two output signals at the same time and the data change point information Tdata; and failure/no-failure test means receptive of the phase difference &Dgr;T for performing, based on a predetermined threshold value, a failure/no-failure test in the relative phase relationship of DUT.
(FR) L'invention permet de réaliser un excellent test de pannes sur des dispositifs. A cet effet, on mesure le point de contact d'un signal d'horloge différentiel CLK émis par le dispositif à l'essai et on chronomètre deux signaux de données DATA afin d'obtenir un déphasage relatif entre ces deux signaux. Sont prévus des moyens de chronométrage des signaux différentiels qui émettent des informations sur le point de contact Tcross obtenues en chronométrant le point de contact d'un signal de sortie différentiel émis par un dispositif destiné à être testé ; des moyens de chronométrage des signaux non différentiels qui émettent des informations sur le point de changement de données Tdata obtenues en mesurant un temps de transition de la logique de l'autre signal de sortie non différentiel émis par les transitions du dispositif à l'essai ; des moyens de calcul du déphasage qui émettent un déphasage $g(D)T obtenu en calculant le déphasage relatif entre les informations sur le point de contact Tcross obtenues en mesurant les deux signaux de sortie en même temps et les informations sur le point de changement de données Tdata ; et des moyens de test de pannes qui reçoivent le déphasage $g(D)T afin d'effectuer, sur la base d'une valeur de seuil prédéterminée, un test de panne dans la relation de phase relative du dispositif à l'essai.
