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1. WO2003102826 - MODELEUR TOPOLOGIQUE

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Numéro de publication WO/2003/102826
Date de publication 11.12.2003
N° de la demande internationale PCT/US2003/017191
Date du dépôt international 30.05.2003
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 23.12.2003
CIB
G06T 17/20 2006.1
GPHYSIQUE
06CALCUL; COMPTAGE
TTRAITEMENT OU GÉNÉRATION DE DONNÉES D'IMAGE, EN GÉNÉRAL
17Modélisation tridimensionnelle pour infographie
20Description filaire, p.ex. polygonalisation ou tessellation
CPC
G06F 17/10
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
17Digital computing or data processing equipment or methods, specially adapted for specific functions
10Complex mathematical operations
G06T 17/20
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
17Three dimensional [3D] modelling, e.g. data description of 3D objects
20Finite element generation, e.g. wire-frame surface description, ; tesselation
Déposants
  • UGS CORP. [US]/[US]
Inventeurs
  • BROMBOLICH, Daniel L.
Mandataires
  • LINEBERRY, Allen Scott
Données relatives à la priorité
10/160,42431.05.2002US
Langue de publication Anglais (en)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) TOPOLOGY MODELER
(FR) MODELEUR TOPOLOGIQUE
Abrégé
(EN) According to one embodiment of the invention, a method for modeling a feature associated with a deformed material is provided. The method includes generating a first mesh having a model of a feature and a second mesh. A normal distance between a point on the model of the feature and the surface of the first mesh is measured. A location of the surface point of the first mesh that is used to measure the normal distance is determined. The determined location is used to locate the same surface point on the second mesh. A new location for a new point corresponding to the point on the model of the feature associated with the first mesh is determined. The new location is located at the distance as the determined normal distance, but along a normal vector that intersects the same surface point on the second mesh.
(FR) Dans un mode de réalisation de cette invention, on prévoit un procédé de modelage d'un trait associé à une substance déformée. Le procédé consiste à générer un premier réseau ayant un modèle d'un trait et un second réseau. Une distance normale séparant un point sur le modèle du trait de la surface du premier réseau est mesuré. On détermine ensuite l'emplacement du point superficiel du premier réseau que l'on utilise pour mesurer la distance normale, l'emplacement déterminé servant ensuite à localiser le même point superficiel sur le second réseau. On détermine alors un nouvel emplacement pour un nouveau point correspondant au point sur le modèle du trait associé au premier réseau. On localise le nouvel emplacement à la distance de la distance normale déterminée, mais le long d'un vecteur normal qui croise le même point superficiel sur le second réseau.
Documents de brevet associés
US20030225553
EP1509853
CA2488055
AU2003237307
JP2005528701
KR1020050019723
MXPA/a/2004/011936Cette demande ne peut pas être visualisée dans PATENTSCOPE car les données relatives à l'ouverture de la phase nationale n'ont pas encore été publiées ou sont émises par un pays qui ne partage pas de données avec l'OMPI ou il y a un problème de formatage ou d'indisponibilité de la demande.
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