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1. WO2003098201 - PROCEDE D'ANALYSE DE DEFAUTS DE SURFACE

Numéro de publication WO/2003/098201
Date de publication 27.11.2003
N° de la demande internationale PCT/JP2003/006102
Date du dépôt international 16.05.2003
CIB
G01N 21/892 2006.1
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
84Systèmes spécialement adaptés à des applications particulières
88Recherche de la présence de criques, de défauts ou de souillures
89dans un matériau mobile, p.ex. du papier, des textiles
892caractérisée par la crique, le défaut ou la caractéristique de l'objet examiné
G06K 9/62 2006.1
GPHYSIQUE
06CALCUL; COMPTAGE
KRECONNAISSANCE DES DONNÉES; PRÉSENTATION DES DONNÉES; SUPPORTS D'ENREGISTREMENT; MANIPULATION DES SUPPORTS D'ENREGISTREMENT
9Méthodes ou dispositions pour la lecture ou la reconnaissance de caractères imprimés ou écrits ou pour la reconnaissance de formes, p.ex. d'empreintes digitales
62Méthodes ou dispositions pour la reconnaissance utilisant des moyens électroniques
G06T 7/00 2006.1
GPHYSIQUE
06CALCUL; COMPTAGE
TTRAITEMENT OU GÉNÉRATION DE DONNÉES D'IMAGE, EN GÉNÉRAL
7Analyse d'image
CPC
G01B 11/30
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
11Measuring arrangements characterised by the use of optical means
30for measuring roughness or irregularity of surfaces
G01N 2021/8854
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
84Systems specially adapted for particular applications
88Investigating the presence of flaws or contamination
8851Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
8854Grading and classifying of flaws
G01N 21/892
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
84Systems specially adapted for particular applications
88Investigating the presence of flaws or contamination
89in moving material, e.g. running paper or textiles
892characterised by the flaw, defect or object feature examined
G06F 18/2132
G06T 1/00
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
1General purpose image data processing
G06T 7/00
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
7Image analysis
Déposants
  • JFE STEEL CORPORATION [JP]/[JP] (AllExceptUS)
  • HIRATA, Takehide [JP]/[JP] (UsOnly)
  • ASANO, Kazuya [JP]/[JP] (UsOnly)
  • TOMURA, Yasuo [JP]/[JP] (UsOnly)
Inventeurs
  • HIRATA, Takehide
  • ASANO, Kazuya
  • TOMURA, Yasuo
Mandataires
  • OCHIAI, Kenichiro
Données relatives à la priorité
2002-14678721.05.2002JP
Langue de publication Japonais (ja)
Langue de dépôt japonais (JA)
États désignés
Titre
(EN) SURFACE DEFECT JUDGING METHOD
(FR) PROCEDE D'ANALYSE DE DEFAUTS DE SURFACE
Abrégé
(EN) A judging logic for judging the kind or class of a defect is automatically created in a short time, and the rate of concordance of the defect kind or class is improved. The specific solving means is as follows. The features of surface defects that have been collected and stored in the past are represented as points in a feature space. Under the restriction condition that there is an identification surface enabling perfect linear separation in a mapped space by using a virtual mapping function, an objective function of the distance to the point spaced from the identifying surface by the shortest distance. The identification surface maximizing the objective function and determined by solving a quadratic programming problem is previously defined as an identification function. The feature of a surface defect the kind of which is unknown is substituted into the identification function. From the results, the kind of the surface defect the kind of which is unknown is judged to be the defect kind or not.
(FR) L'invention concerne une logique d'analyse permettant d'analyser automatiquement le type ou la classe d'un défaut, en un court laps de temps, dans laquelle le taux de concordance entre le type ou la classe du défaut est supérieure. Dans cette logique, les caractéristiques des défauts de surface collectées et stockées préalablement sont représentées sous forme de points dans un espace de caractéristiques. Sauf s'il existe une surface d'identification permettant une séparation linéaire parfaite dans un espace mis en correspondance à l'aide d'une fonction de mise en correspondance virtuelle, une fonction objective de la distance jusqu'au point situé à une certaine distance de la surface d'identification par la distance la plus courte est créée. La surface d'identification maximisant la fonction objective et déterminée par résolution d'un problème de programmation quadratique est préalablement définie sous forme de fonction d'identification. La caractéristique d'un défaut de surface dont le type est inconnu est substituée dans la fonction d'identification. Ensuite, le type de défaut de surface dont le type est inconnu est analysé à partir des résultats pour déterminer s'il correspond ou non au type de défaut.
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