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1. WO2003025537 - DISPOSITIF ET PROCEDE D'ESTIMATION, DISPOSITIF DE REGLAGE, ET UN PROCEDE DE CORRECTION D'UN MAUVAIS ALIGNEMENT D'UN SYSTEME OPTIQUE

Numéro de publication WO/2003/025537
Date de publication 27.03.2003
N° de la demande internationale PCT/JP2002/000284
Date du dépôt international 17.01.2002
CIB
G01M 11/00 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
MTEST D'ÉQUILIBRAGE STATIQUE OU DYNAMIQUE DES MACHINES OU DES STRUCTURES OU DES OUVRAGES; TEST DES STRUCTURES, DES OUVRAGES OU DES APPAREILS, NON PRÉVU AILLEURS
11Test des appareils optiques; Test des structures ou des ouvrages par des méthodes optiques, non prévu ailleurs
G02B 7/00 2006.01
GPHYSIQUE
02OPTIQUE
BÉLÉMENTS, SYSTÈMES OU APPAREILS OPTIQUES
7Montures, moyens de réglage ou raccords étanches à la lumière pour éléments optiques
G02B 23/16 2006.01
GPHYSIQUE
02OPTIQUE
BÉLÉMENTS, SYSTÈMES OU APPAREILS OPTIQUES
23Télescopes ou lunettes d'approche, p.ex. jumelles; Périscopes; Instruments pour voir à l'intérieur de corps creux; Viseurs; Pointage optique ou appareils de visée
16Logements; Couvercles; Montures; Supports, p.ex. avec contrepoids
CPC
G01M 11/00
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
11Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
G01M 11/005
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
11Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
005Testing of reflective surfaces, e.g. mirrors
G01M 11/31
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
11Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
30Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
31with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
G02B 23/16
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
23Telescopes, e.g. binoculars; Periscopes; Instruments for viewing the inside of hollow bodies
16Housings; Caps; Mountings; Supports, e.g. with counterweight
G02B 7/003
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
7Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
003Alignment of optical elements
Déposants
  • MITSUBISHI DENKI KABUSHIKI KAISHA [JP]/[JP] (AllExceptUS)
  • SUZUKI, Jiro [JP]/[JP] (UsOnly)
  • ANDO, Toshiyuki [JP]/[JP] (UsOnly)
  • SUZUKI, Hiroshi [JP]/[JP] (UsOnly)
  • WADAKA, Syusou [JP]/[JP] (UsOnly)
  • HIRANO, Yoshihito [JP]/[JP] (UsOnly)
  • MIKAMI, Izumi [JP]/[JP] (UsOnly)
  • MATSUSHITA, Tadashi [JP]/[JP] (UsOnly)
Inventeurs
  • SUZUKI, Jiro
  • ANDO, Toshiyuki
  • SUZUKI, Hiroshi
  • WADAKA, Syusou
  • HIRANO, Yoshihito
  • MIKAMI, Izumi
  • MATSUSHITA, Tadashi
Mandataires
  • SOGA, Michiteru
Données relatives à la priorité
2001-28367418.09.2001JP
Langue de publication japonais (JA)
Langue de dépôt japonais (JA)
États désignés
Titre
(EN) OPTICAL SYSTEM MISALIGNMENT ESTIMATING DEVICE, OPTICAL SYSTEM MISALIGNMENT ADJUSTING DEVICE, OPTICAL SYSTEM MISALIGNMENT ESTIMATING METHOD, AND OPTICAL SYSTEM MISALIGNMENT CORRECTING METHOD
(FR) DISPOSITIF ET PROCEDE D'ESTIMATION, DISPOSITIF DE REGLAGE, ET UN PROCEDE DE CORRECTION D'UN MAUVAIS ALIGNEMENT D'UN SYSTEME OPTIQUE
Abrégé
(EN)
An optical system misalignment estimating device comprises erected/inverted posture setting means (9) for changing the set posture of an optical system to be measured, incoherent wavefront measuring means (10) for measuring the wavefront in each set posture without using the optical polynomial approximating means (15) for developing the wavefront measured value determined by the incoherent wavefront measuring means (10) into a polynomial, averaging means (11) for averaging either the value measured by the incoherent wavefront measuring means (10) or the value determined by the polynomial approximating means (15), and polynomial specific coefficient extracting means (16) for extracting a specific coefficient value of the polynomial.
(FR)
L'invention concerne un dispositif d'estimation d'un mauvais alignement d'un système optique comprenant des moyens de réglage de la positon érigée/inversée (9) permettant de changer la position réglée d'un système optique à mesurer, des moyens de mesure du front d'ondes incohérent (10) permettant de mesurer le front d'ondes dans chaque position réglée sans mettre en oeuvre des moyens d'approximation polynomiale optiques (15), aux fins de développement de la valeur mesurée du front d'ondes déterminée par les moyens de mesure du front d'ondes incohérent (10) en un polynôme, des moyens d'établissement de moyenne (11) permettant d'établir la moyenne soit de la valeur mesurée par les moyens de mesure du front d'ondes incohérent (10), soit de la valeur déterminée par les moyens d'approximation polynomiale (15), ainsi que des moyens d'extraction de coefficient spécifique de polynôme (16) permettant d'extraire une valeur de coefficient spécifique du polynôme.
Également publié en tant que
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