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Paramétrages

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1. WO2003009326 - SYSTEME DE BALAYAGE PAR FAISCEAU LASER DE MACHINE DE MESURE DE COORDONNEES

Numéro de publication WO/2003/009326
Date de publication 30.01.2003
N° de la demande internationale PCT/US2002/022831
Date du dépôt international 17.07.2002
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 12.02.2003
CIB
G01B 11/00 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
BMESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
11Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de moyens optiques
G01B 11/24 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
BMESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
11Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de moyens optiques
24pour mesurer des contours ou des courbes
G01N 21/88 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
84Systèmes spécialement adaptés à des applications particulières
88Recherche de la présence de criques, de défauts ou de souillures
G01N 21/894 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
84Systèmes spécialement adaptés à des applications particulières
88Recherche de la présence de criques, de défauts ou de souillures
89dans un matériau mobile, p.ex. du papier, des textiles
892caractérisée par la crique, le défaut ou la caractéristique de l'objet examiné
894Trous d'épingle
CPC
G01B 11/00
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
11Measuring arrangements characterised by the use of optical means
G01B 11/002
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
11Measuring arrangements characterised by the use of optical means
002for measuring two or more coordinates
G01B 11/005
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
11Measuring arrangements characterised by the use of optical means
002for measuring two or more coordinates
005coordinate measuring machines
G01B 11/24
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
11Measuring arrangements characterised by the use of optical means
24for measuring contours or curvatures
G01N 21/88
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible or ultra-violet light
84Systems specially adapted for particular applications
88Investigating the presence of flaws or contamination
G01N 21/894
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible or ultra-violet light
84Systems specially adapted for particular applications
88Investigating the presence of flaws or contamination
89in moving material, e.g. running paper or textiles
892characterised by the flaw, defect or object feature examined
894Pinholes
Déposants
  • CLASMET [US/US]; 3516 Craig Drive Apopka, FL 32703, US
Inventeurs
  • MACAULAY, Donald, G.; US
  • MACAULAY, Robert, W.; US
  • MACAULAY, George, L.; US
Mandataires
  • STEINBERGER, Brian, S.; Law Offices of Brian S. Steinberger, P.A. 101 Brevard Avenue Cocoa, FL 32922, US
Données relatives à la priorité
09/908,78318.07.2001US
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) COORDINATE MEASURING MACHINE LASER BEAM SCANNING TYPE
(FR) SYSTEME DE BALAYAGE PAR FAISCEAU LASER DE MACHINE DE MESURE DE COORDONNEES
Abrégé
(EN)
A dual beam concentric polar axis scanning machine (1) for allowing flat parts (50) to be easily scanned and measured. Flat shaped parts (50) are placed on a glass datum type part support surface (60). The dual beam laser type scanners (200) are positioned on a motion stage (30) beneath the part support surface (60) and move in the x and y planes parallel to the part support surface (60). Detectors (300) above the surface receive the beams (205, 280) and move in unison with the scanners (200). Initially, the beams trace the external outline of the part (50) and measure all grooves, side indentations and the like. Next, the beams (205, 280) pass over the surface of the part (50) locating and mapping the locations of any openings therethrough. Finally, the beams (205, 280) trace perimeter edges (51) of each of the openings for their measurements. The dual beams (205, 280) include an outer rotating beam (280) also referred to as a forward looking beam, and an inner rotating beam (205) where the forward looking beam (280) restricts the inner beam (205) to continuously and consistently measure the exterior side edges (51) of the part (50), the opening locations in the part (50), and the side edges of the openings of the part (50).
(FR)
L'invention concerne une machine (1) de balayage à axe polaire concentrique double faisceau permettant de balayer et de mesurer facilement des pièces plates (50). Les pièces plates (50) sont placées sur une surface de support (60) de pièces de référence en verre. Les dispositifs de balayage laser double faisceau (200) sont positionnés sur un étage amovible (30) au-dessous de la surface de support de pièces (60) et se déplacent sur les plans x et y parallèles à la surface de support de pièces (60). Des détecteurs (300) situés au-dessus de la surface reçoivent les faisceaux (205, 280) et se déplacent à l'unisson avec les dispositifs de balayage (200). Dans un premier temps, les faisceaux tracent le contour extérieur de la pièce (50) et mesurent toutes les rainures, entailles latérales et autres éléments semblables. Les faisceaux (205, 280) passent ensuite au-dessus de la surface de la pièce (50) localisant et mettant en correspondance les emplacements d'ouvertures quelconques. Enfin les faisceaux (205, 280) tracent les bords périmétriques (51) de chacune des ouvertures afin de les mesurer. Les faisceaux doubles (205, 280) comprennent un faisceau de rotation extérieur (280) également appelé faisceau avant, et un faisceau de rotation intérieur (205), le faisceau avant (280) limitant le faisceau intérieur (205) à mesurer de façon continue et uniforme les bords latéraux extérieurs (51) de la pièce (50), les emplacements des ouvertures de la pièce (50) et les bords latéraux des ouvertures de la pièce (50).
Également publié en tant que
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