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Paramétrages

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1. WO2003008985 - CIRCUIT D'E/S ET APPAREIL DE CONTROLE

Numéro de publication WO/2003/008985
Date de publication 30.01.2003
N° de la demande internationale PCT/JP2002/007259
Date du dépôt international 17.07.2002
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 27.12.2002
CIB
G01R 31/319 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31Dispositions pour tester les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour tests électriques caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
28Test de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux
317Tests de circuits numériques
3181Tests fonctionnels
319Matériel de test, c. à d. circuits de traitement de signaux de sortie
CPC
G01R 31/31926
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
317Testing of digital circuits
3181Functional testing
319Tester hardware, i.e. output processing circuit
31917Stimuli generation or application of test patterns to the device under test [DUT]
31926Routing signals to or from the device under test [DUT], e.g. switch matrix, pin multiplexing
Déposants
  • ADVANTEST CORPORATION [JP/JP]; 1-32-1, Asahi-cho Nerima-ku, Tokyo 179-0071, JP (AllExceptUS)
  • SEKINO, Takashi [JP/JP]; JP (UsOnly)
Inventeurs
  • SEKINO, Takashi; JP
Mandataires
  • RYUKA, Akihiro; 6F, Toshin Building 24-12, Shinjuku 1-chome Shinjuku-ku, Tokyo 160-0022, JP
Données relatives à la priorité
2001-21679217.07.2001JP
Langue de publication japonais (JA)
Langue de dépôt japonais (JA)
États désignés
Titre
(EN) INPUT/OUTPUT CIRCUIT AND TEST APPARATUS
(FR) CIRCUIT D'E/S ET APPAREIL DE CONTROLE
Abrégé
(EN)
An input/output circuit for transmitting/receiving a signal to/from an electronic device. The input/output circuit includes a driver for supplying a signal to the electronic device, a comparator provided parallel to the driver and adapted for receiving a signal from the electronic device, a relay circuit arranged in series to the comparator and the electronic device between the comparator and the electronic device, and a first transmission path for electrically connecting the comparator to the relay circuit. The input/output circuit is characterized in that the relay circuit has an impedance greater than that of the first transmission path.
(FR)
L'invention porte sur un circuit d'E/S et sur un appareil de contrôle d'émission/réception d'un signal à destination ou en provenance d'un dispositif électronique. Ledit circuit comporte un pilote fournissant un signal au dispositif électronique, un comparateur monté en parallèle avec le pilote et destiné à recevoir un signal provenant du dispositif électronique, un circuit relais monté en série entre le comparateur et le dispositif électronique, et une première ligne de transmission reliant électriquement le comparateur au circuit relais. Le circuit d'E/S se caractérise en ce que le circuit relais présente une impédance supérieure à celle de la première ligne de transmission.
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