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1. WO2003008941 - DETECTION DE LIAISON MOLECULAIRE COMBINEE AU MOYEN DE LA MICROSCOPIE A FORCE ATOMIQUE ET DE LA SPECTROMETRIE DE MASSE

Numéro de publication WO/2003/008941
Date de publication 30.01.2003
N° de la demande internationale PCT/US2002/022646
Date du dépôt international 17.07.2002
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 05.02.2003
CIB
G01Q 30/14 2010.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
QTECHNIQUES OU APPAREILS À SONDE À BALAYAGE; APPLICATIONS DES TECHNIQUES DE SONDE À BALAYAGE, p.ex. MICROSCOPIE À SONDE À BALAYAGE
30Moyens auxiliaires destinés à assister ou améliorer les techniques ou les appareils à sonde à balayage, p.ex. dispositifs d’affichage ou de traitement de données
08Moyens pour établir ou réguler des conditions ambiantes souhaitées au sein d'une enceinte d'échantillonnage
12avec fluide
14avec liquide
G01Q 60/10 2010.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
QTECHNIQUES OU APPAREILS À SONDE À BALAYAGE; APPLICATIONS DES TECHNIQUES DE SONDE À BALAYAGE, p.ex. MICROSCOPIE À SONDE À BALAYAGE
60Types particuliers de microscopie à sonde à balayage SPM ou appareils à cet effet; Composants essentiels de ceux-ci
10Microscopie à effet tunnel à balayage STM ou appareils à cet effet, p.ex. sondes STM
G01Q 60/18 2010.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
QTECHNIQUES OU APPAREILS À SONDE À BALAYAGE; APPLICATIONS DES TECHNIQUES DE SONDE À BALAYAGE, p.ex. MICROSCOPIE À SONDE À BALAYAGE
60Types particuliers de microscopie à sonde à balayage SPM ou appareils à cet effet; Composants essentiels de ceux-ci
18Microscopie optique à champ proche à balayage SNOM ou appareils à cet effet, p.ex. sondes SNOM
G01Q 60/24 2010.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
QTECHNIQUES OU APPAREILS À SONDE À BALAYAGE; APPLICATIONS DES TECHNIQUES DE SONDE À BALAYAGE, p.ex. MICROSCOPIE À SONDE À BALAYAGE
60Types particuliers de microscopie à sonde à balayage SPM ou appareils à cet effet; Composants essentiels de ceux-ci
24Microscopie à forces atomiques AFM ou appareils à cet effet, p.ex. sondes AFM
G01Q 30/02 2010.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
QTECHNIQUES OU APPAREILS À SONDE À BALAYAGE; APPLICATIONS DES TECHNIQUES DE SONDE À BALAYAGE, p.ex. MICROSCOPIE À SONDE À BALAYAGE
30Moyens auxiliaires destinés à assister ou améliorer les techniques ou les appareils à sonde à balayage, p.ex. dispositifs d’affichage ou de traitement de données
02Dispositifs d'analyse d’un type autre que la microscopie à sonde à balayage SPM, p.ex. microscope électronique à balayage SEM , spectromètre ou microscope optique
CPC
G01Q 30/02
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
QSCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
30Auxiliary means serving to assist or improve the scanning probe techniques or apparatus, e.g. display or data processing devices
02Non-SPM analysing devices, e.g. SEM [Scanning Electron Microscope], spectrometer or optical microscope
G01Q 60/42
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
QSCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
60Particular types of SPM [Scanning Probe Microscopy] or microscopes; Essential components thereof
24AFM [Atomic Force Microscopy] or apparatus therefor, e.g. AFM probes
38Probes, their manufacture, or their related instrumentation, e.g. holders
42Functionalisation
Déposants
  • BIOFORCE NANOSCIENCES, INC. [US/US]; 2901 South Loop Drive Ames, IA 50010, US (AllExceptUS)
  • HENDERSON, Eric [US/US]; US (UsOnly)
Inventeurs
  • HENDERSON, Eric; US
Mandataires
  • FAHRLANDER, Jill, A. ; Michael Best & Freidrich, LLP One South Pinckney Street Suite 700 P.O. Box 1806 Madison, WI 53701-1806, US
Données relatives à la priorité
10/198,20217.07.2002US
60/306,04217.07.2001US
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) COMBINED MOLECULAR BLINDING DETECTION THROUGH FORCE MICROSCOPY AND MASS SPECTROMETRY
(FR) DETECTION DE LIAISON MOLECULAIRE COMBINEE AU MOYEN DE LA MICROSCOPIE A FORCE ATOMIQUE ET DE LA SPECTROMETRIE DE MASSE
Abrégé
(EN)
The present invention includes a method for analyzing and characterizing molecular interaction events utilizing a combined scanning probe microscope (SPM) and a mass spectrometer (MS). An array of one or more deposition materials may be randomly deposited on a suitable surface, scanned with the SPM ( or AFM) to take an initial reading of the topography of the deposition materials on the surface, and then exposed to a target sample containing a target material which may bind or interact to one or more of the deposition materials on the surface. The surface is then scanned again with the SPM to determine the molecular interaction sites and then these sites are analyzed using the MS to determine both the unknown and the deposition material.
(FR)
L'invention concerne un procédé d'analyse et de caractérisation d'événements d'interaction moléculaire, faisant appel à la combinaison d'un microscope-sonde à balayage (SPM) et d'un spectromètre de masse (MS). Un réseau d'un ou de plusieurs matériaux de dépôt peut être déposé de manière aléatoire sur une surface appropriée, balayée au moyen d'un SPM (ou d'un AFM : dispositif de microscopie à force atomique), pour effectuer une lecture initiale de la topographie des matériaux de dépôt sur la surface, et ensuite être exposé à l'échantillon cible contenant un matériau cible qui peut être relié à un ou plusieurs matériaux de dépôt situés sur la surface, ou interagir avec un ou plusieurs matériaux de dépôt situés sur la surface. La surface est ensuite balayée de nouveau, au moyen d'un SPM, pour déterminer les sites d'interaction moléculaire, puis ces sites sont analysés au moyen d'un MS pour déterminer à la fois le matériau inconnu et le matériau de dépôt.
Également publié en tant que
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