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Paramétrages

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1. WO2003007331 - PROCEDE D'ETALONNAGE D'UN SPECTROMETRE DE MASSE

Numéro de publication WO/2003/007331
Date de publication 23.01.2003
N° de la demande internationale PCT/US2002/022143
Date du dépôt international 11.07.2002
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 12.02.2003
CIB
H01J 49/40 2006.01
HÉLECTRICITÉ
01ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
JTUBES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE OU LAMPES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE
49Spectromètres pour particules ou tubes séparateurs de particules
26Spectromètres de masse ou tubes séparateurs de masse
34Spectromètres dynamiques
40Spectromètres à temps de vol
CPC
H01J 49/0009
HELECTRICITY
01BASIC ELECTRIC ELEMENTS
JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
49Particle spectrometers or separator tubes
0009Calibration of the apparatus
H01J 49/40
HELECTRICITY
01BASIC ELECTRIC ELEMENTS
JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
49Particle spectrometers or separator tubes
26Mass spectrometers or separator tubes
34Dynamic spectrometers
40Time-of-flight spectrometers
Déposants
  • CIPHERGEN BIOSYSTEMS, INC. [US/US]; 6611 Dumbarton Circle Fremont, CA 94555, US (AllExceptUS)
  • WEINBERGER, Scot, R. [US/US]; US (UsOnly)
  • GAVIN, Edward, J. [US/US]; US (UsOnly)
  • YOUNGQUIST, Michael, G. [US/US]; US (UsOnly)
Inventeurs
  • WEINBERGER, Scot, R.; US
  • GAVIN, Edward, J.; US
  • YOUNGQUIST, Michael, G.; US
Mandataires
  • JEWIK, Patrick, R. ; Townsend and Townsend and Crew LLP Two Embarcadero Center Eighth Floor San Francisco, CA 94111-3834, US
Données relatives à la priorité
60/305,11912.07.2001US
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) METHOD FOR CALIBRATING A MASS SPECTROMETER
(FR) PROCEDE D'ETALONNAGE D'UN SPECTROMETRE DE MASSE
Abrégé
(EN)
A method for calibrating a time-of-flight mass spectrometer is disclosed. The method includes determining the time-of-flight values (56), or values derived from the time of flight values for a calibration substance at each of a plurality of different addressable locations on a sample substrate. Then, one of the addressable locations on the substrate is identified as a reference addressable location. A plurality correction factors are then calculated (60) for the respective addressable locations on the substrate using the time of flight value (62), or a value derived from the time-of-flight value.
(FR)
L'invention concerne un procédé d'étalonnage d'un spectromètre de masse à temps de vol. Ce procédé comprend les étapes consistant : à déterminer les valeurs de temps de vol (56), ou des valeurs dérivées des valeurs de temps de vol relatives à une substance d'étalonnage, en chacun des emplacements d'une pluralité d'emplacements différents adressables sur un substrat échantillon ; à identifier un des emplacements adressables sur ce substrat comme étant l'emplacement adressable de référence ; puis à calculer (60) une pluralité de facteurs de correction pour chaque emplacement adressable sur le substrat, au moyen de la valeur de temps de vol (62) ou d'une valeur dérivée de ladite valeur de temps de vol.
Également publié en tant que
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