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Paramétrages

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1. WO2003007007 - DISPOSITIF DE MANIPULATION DE PIECES ELECTRONIQUES, ET PROCEDE DE REGULATION DE LA TEMPERATURE DE PIECES ELECTRONIQUES

Numéro de publication WO/2003/007007
Date de publication 23.01.2003
N° de la demande internationale PCT/JP2002/006851
Date du dépôt international 05.07.2002
CIB
G01R 31/28 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31Dispositions pour tester les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour tests électriques caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
28Test de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux
CPC
G01R 31/2862
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
2851Testing of integrated circuits [IC]
2855Environmental, reliability or burn-in testing
286External aspects, e.g. related to chambers, contacting devices or handlers
2862Chambers or ovens; Tanks
G01R 31/2867
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
2851Testing of integrated circuits [IC]
2855Environmental, reliability or burn-in testing
286External aspects, e.g. related to chambers, contacting devices or handlers
2865Holding devices, e.g. chucks; Handlers or transport devices
2867Handlers or transport devices, e.g. loaders, carriers, trays
G01R 31/2868
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
2851Testing of integrated circuits [IC]
2855Environmental, reliability or burn-in testing
286External aspects, e.g. related to chambers, contacting devices or handlers
2868Complete testing stations; systems; procedures; software aspects
G01R 31/2874
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
2851Testing of integrated circuits [IC]
2855Environmental, reliability or burn-in testing
2872related to electrical or environmental aspects, e.g. temperature, humidity, vibration, nuclear radiation
2874related to temperature
Déposants
  • ADVANTEST CORPORATION [JP/JP]; 32-1, Asahicho 1-chome Nerima-ku Tokyo 179-0071, JP (AllExceptUS)
  • YAMASHITA, Tsuyoshi [JP/JP]; JP (UsOnly)
  • IGARASHI, Noriyuki [JP/JP]; JP (UsOnly)
Inventeurs
  • YAMASHITA, Tsuyoshi; JP
  • IGARASHI, Noriyuki; JP
Mandataires
  • HAYAKAWA, Yuzi ; Arcadia Patent Firm Suite 501 Hikawa-Annex No.2 9-5, Akasaka 6-chome Minato-ku, Tokyo 107-0052, JP
Données relatives à la priorité
2001-21249812.07.2001JP
Langue de publication japonais (JA)
Langue de dépôt japonais (JA)
États désignés
Titre
(EN) ELECTRONIC PARTS HANDLING DEVICE, AND ELECTRONIC PARTS TEMPERATURE CONTROL METHOD
(FR) DISPOSITIF DE MANIPULATION DE PIECES ELECTRONIQUES, ET PROCEDE DE REGULATION DE LA TEMPERATURE DE PIECES ELECTRONIQUES
Abrégé
(EN)
A handler (1) is provided with an inner chamber (104) for internally receiving the heat sink (40) of a pusher (30), a temperature control device (91) for controlling the temperature of the atmosphere in the inner chamber (104), a test chamber (102) for internally receiving a socket (40) on a test head (5) and the inner chamber (104), and a temperature control device (90) for controlling the temperature of the atmosphere in the test chamber (102). With such handler (1), it is possible to effect temperature control so that the temperature of the electronic part is in the vicinity of a set temperature for the intended test.
(FR)
La présente invention concerne un automate programmable (1) comprenant une chambre intérieure (104) recevant le puits thermique (40) d'un pousseur (30), un régulateur thermique (91) pour l'atmosphère dans la chambre intérieure (104), une chambre de test (102) accueillant une embase (40) sur une tête de test (5) et la chambre intérieure (104), et un régulateur thermique (90) pour l'atmosphère dans la chambre de test (102). Avec un tel automate programmable (1), il est possible de réaliser une régulation thermique de façon que la température de la pièce électronique se situe au voisinage d'une température définie pour le test prévu.
Également publié en tant que
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