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Paramétrages

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1. WO2003006940 - DISPOSITIF D'ANALYSE D'UN FRONT D'ONDE A RESOLUTION AMELIOREE

Numéro de publication WO/2003/006940
Date de publication 23.01.2003
N° de la demande internationale PCT/FR2002/002495
Date du dépôt international 12.07.2002
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 07.02.2003
CIB
G01J 9/00 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
JMESURE DE L'INTENSITÉ, DE LA VITESSE, DU SPECTRE, DE LA POLARISATION, DE LA PHASE OU DES CARACTÉRISTIQUES D'IMPULSIONS DE LUMIÈRE INFRAROUGE, VISIBLE OU ULTRAVIOLETTE; COLORIMÉTRIE; PYROMÉTRIE DES RADIATIONS
9Mesure du déphasage des rayons lumineux; Recherche du degré de cohérence; Mesure de la longueur d'onde des rayons lumineux
CPC
G01J 9/00
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED, VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
9Measuring optical phase difference
Déposants
  • IMAGINE OPTIC [FR/FR]; 18, rue Charles de Gaulle F-91400 Orsay, FR (AllExceptUS)
  • LEVECQ, Xavier, Jean-François [FR/FR]; FR (UsOnly)
  • HARMS, Fabrice [FR/FR]; FR (UsOnly)
Inventeurs
  • LEVECQ, Xavier, Jean-François; FR
  • HARMS, Fabrice; FR
Mandataires
  • ALLANO, Sylvain ; Pontet Allano & Associes Selarl 25, rue Jean Rostand Parc Club Orsay Université F-91893 Orsay Cedex, FR
Données relatives à la priorité
01/0943512.07.2001FR
Langue de publication français (FR)
Langue de dépôt français (FR)
États désignés
Titre
(EN) DEVICE FOR ANALYSING A WAVEFRONT WITH ENHANCED RESOLUTION
(FR) DISPOSITIF D'ANALYSE D'UN FRONT D'ONDE A RESOLUTION AMELIOREE
Abrégé
(EN)
The invention concerns a device for analysing a wavefront with enhanced resolution. The inventive wavefront analysing device, of the Hartmann or Shack-Hartmann type, comprises in particular a set of sampling elements arranged in an analysis plane, and forming as many micro-lenses for sampling the incident wavefront, and a diffraction plane wherein are analysed the Airy discs of the different micro-lenses illuminated by the incident wavefront. The invention is characterised in that the shape of each micro-lens is such that the associated diffraction figure has in the diffraction plane one or several preferential axe(s), and the micro-lenses are oriented in the analysis plane such that the preferential axe(s) of the diffraction figure of a micro-lens are offset relative to the preferential axes of the diffraction figures of neighbouring micro-lenses, thereby enabling to limit the overlapping of the diffraction figures.
(FR)
Dispositif d'analyse d'un front d'onde à résolution améliorée. L'invention concerne un dispositif d'analyse d'un front d'onde, de type Hartmann ou Shack-Hartmann, comprenant notamment un ensemble d'éléments d'échantillonnage agencés dans un plan d'analyse, et formant autant de sous-pupilles permettant l'échantillonnage du front d'onde incident, et un plan de diffraction dans lequel sont analysées les taches de diffraction des différentes sous-pupilles éclairées par le front d'onde incident. Selon l'invention, la forme de chaque sous-pupille est telle que la figure de diffraction associée présente dans le plan de diffraction un ou plusieurs axes privilégiés, et les sous-pupilles sont orientées dans le plan d'analyse de telle sorte que le ou les axes privilégiés de la figure de diffraction d'une sous-pupille sont décalés par rapport aux axes privilégiés des figures de diffraction des sous-pupilles voisines, permettant ainsi de limiter le chevauchement des figures de diffraction.
Également publié en tant que
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