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Paramétrages

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1. WO2003003036 - CIRCUIT ET PROCEDE DE DETECTION DE TENSIONS TRANSITOIRES SUR UN RAIL D'ALIMENTATION EN C.C.

Numéro de publication WO/2003/003036
Date de publication 09.01.2003
N° de la demande internationale PCT/US2002/017257
Date du dépôt international 30.05.2002
CIB
G01R 31/04 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31Dispositions pour tester les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour tests électriques caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
02Essai des appareils, des lignes ou des composants électriques pour y déceler la présence de courts-circuits, de discontinuités, de fuites ou de connexions incorrectes de lignes
04Essai de connexions, p.ex. de fiches de prises de courant ou de raccords non déconnectables
G01R 31/30 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31Dispositions pour tester les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour tests électriques caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
28Test de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux
30Tests marginaux, p.ex. en faisant varier la tension d'alimentation
G01R 31/40 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31Dispositions pour tester les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour tests électriques caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
40Tests d'alimentation
CPC
G01R 31/3004
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
30Marginal testing, e.g. by varying supply voltage
3004Current or voltage test
G01R 31/40
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
40Testing power supplies
G01R 31/71
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
50Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
66Testing of connections, e.g. of plugs or non-disconnectable joints
70Testing of connections between components and printed circuit boards
71Testing of solder joints
Déposants
  • LOGICVISION, INC. [US/US]; 101 Metro Drive Third Floor San Jose, CA 95110, US (AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BE, BF, BG, BJ, BR, BY, BZ, CA, CF, CG, CH, CI, CM, CN, CO, CR, CU, CY, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, ES, FI, FR, GA, GB, GD, GE, GH, GM, GN, GQ, GR, GW, HR, HU, ID, IE, IL, IN, IS, IT, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MC, MD, MG, MK, ML, MN, MR, MW, MX, MZ, NE, NL, NO, NZ, OM, PH, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, SN, SZ, TD, TG, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VN, YU, ZA, ZM, ZW)
  • SUNTER, Stephen, K. [CA/CA]; CA (UsOnly)
Inventeurs
  • SUNTER, Stephen, K.; CA
Mandataires
  • PROULX, Eugene, E.; LogicVision (Canada), Inc. 1525 Carling Avenue, Suite 404 Ottawa, Ontario K1Z 8R9, CA
Données relatives à la priorité
09/888,60526.06.2001US
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) CIRCUIT AND METHOD FOR DETECTING TRANSIENT VOLTAGES ON A DC POWER SUPPLY RAIL
(FR) CIRCUIT ET PROCEDE DE DETECTION DE TENSIONS TRANSITOIRES SUR UN RAIL D'ALIMENTATION EN C.C.
Abrégé
(EN)
A method for detecting a missing or defective power supply pin connection or other defect that results in excessive transient voltages on power supply rails (62,64) of a circuit. The method comprises applying a dc voltage, whose level is substantially independent of transient voltages on the supply voltage rails (62,64), to a sensor logic gate (44) whose output (50) is applied to a latching circuit (46), applying a signal transition to a stimulus logic gate (42) that is connected to the supply voltage rail; and monitoring the output (56) of a latching circuit (46) for a change in state, a change of state indicating a missing or defective power supply pin connection or other such defect.
(FR)
L'invention porte sur un procédé de détection d'une absence ou d'un défaut d'alimentation sur une broche de connexion, ou d'autres défauts, se traduisant par des tensions transitoires excessives sur le rail d'alimentation d'un circuit. Ledit procédé consiste: à appliquer au rail d'alimentation une tension c.c., d'un niveau pratiquement indépendant des tensions transitoires dans ledit rail, à une porte de logique de détection dont le signal de sortie est appliquée à un circuit de verrouillage; à appliquer une transition de signal à une porte de logique de stimulation relié au rail d'alimentation; et à observer le signal de sortie du circuit de verrouillage pour y déceler un changement d'état, révélateur d'une absence ou d'un défaut de tension sur une broche de connexion, ou d'autres défauts similaires.
Également publié en tant que
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