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Paramétrages

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1. WO2003001675 - ETAGE D'ENTREE A FAIBLE CAPACITE ET FAIBLE BRUIT DE RETROACTION D'UN QUANTIFICATEUR MULTINIVEAUX AVEC VIBRATIONS ET GENERATION MULTI-SEUILS POUR MODULATEUR SIGMA-DELTA MULTIBITS

Numéro de publication WO/2003/001675
Date de publication 03.01.2003
N° de la demande internationale PCT/IB2002/002276
Date du dépôt international 19.06.2002
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 18.12.2002
CIB
H03M 3/04 2006.01
HÉLECTRICITÉ
03CIRCUITS ÉLECTRONIQUES FONDAMENTAUX
MCODAGE, DÉCODAGE OU CONVERSION DE CODE, EN GÉNÉRAL
3Conversion de valeurs analogiques en, ou à partir d'une modulation différentielle
04Modulation différentielle à plusieurs bits
CPC
H03M 3/3287
HELECTRICITY
03BASIC ELECTRONIC CIRCUITRY
MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
3Conversion of analogue values to or from differential modulation
30Delta-sigma modulation
322Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters
324characterised by means or methods for compensating or preventing more than one type of error at a time, e.g. by synchronisation or using a ratiometric arrangement
326by averaging out the errors
328using dither
3287the dither being at least partially dependent on the input signal
H03M 3/332
HELECTRICITY
03BASIC ELECTRONIC CIRCUITRY
MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
3Conversion of analogue values to or from differential modulation
30Delta-sigma modulation
322Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters
324characterised by means or methods for compensating or preventing more than one type of error at a time, e.g. by synchronisation or using a ratiometric arrangement
326by averaging out the errors
328using dither
33the dither being a random signal
332in particular a pseudo-random signal
H03M 3/424
HELECTRICITY
03BASIC ELECTRONIC CIRCUITRY
MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
3Conversion of analogue values to or from differential modulation
30Delta-sigma modulation
39Structural details of delta-sigma modulators, e.g. incremental delta-sigma modulators
412characterised by the number of quantisers and their type and resolution
422having one quantiser only
424the quantiser being a multiple bit one
Déposants
  • NOKIA CORPORATION [FI/FI]; Keilalahdentie 4 FIN-02150 Espoo, FI (AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BE, BF, BG, BJ, BR, BY, BZ, CA, CF, CG, CH, CI, CM, CN, CO, CR, CU, CY, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, ES, FI, FR, GA, GB, GD, GE, GH, GM, GN, GQ, GR, GW, HR, HU, ID, IE, IL, IN, IS, IT, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MC, MD, MG, MK, ML, MN, MR, MW, MX, MZ, NE, NL, NO, NZ, OM, PH, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, SN, SZ, TD, TG, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VN, YU, ZA, ZM, ZW)
  • NOKIA INC. [US/US]; 6000 Connection Drive Irving, TX 75039, US (BB)
Inventeurs
  • RUHA, Antti; FI
  • RUOTSALAINEN, Tarmo; FI
  • TERVALUOTO, Jussi-Pekka; FI
Mandataires
  • SMITH, Harry, F.; Harrington & Smith, LLP 4 Research Drive Shelton, CT 06484-6212, US
Données relatives à la priorité
09/886,41221.06.2001US
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) NMULTI-LEVEL QUANTIZER WITH DITHERING AND MULTI-THRESHOLD GENERATION FOR A MULTI-BT SIGMA-DELTA MODULATOR
(FR) ETAGE D'ENTREE A FAIBLE CAPACITE ET FAIBLE BRUIT DE RETROACTION D'UN QUANTIFICATEUR MULTINIVEAUX AVEC VIBRATIONS ET GENERATION MULTI-SEUILS POUR MODULATEUR SIGMA-DELTA MULTIBITS
Abrégé
(EN)
An N-level quantizer circuit (14) has an analog input terminal and N-1 digital output terminals, and includes a sampling circuit (SW samp) coupled to the input terminal for providing a sampled input voltage signal; at least one preamplifier stage (14A) for converting the sampled input voltage signal to a current signal and providing an amplified sampled input signal; and N-1 comparator stages (14B) each having an input coupled to an output of the at least one preamplifier stage (14A) and sharing the input current equally. Individual ones of the N-1 comparator stages (14B) operate to compare the amplified sampled signal to an associated one of N-1 reference signals. The quantizer (14) further includes N-1 latches (14C), individual ones of which latch an output state of one of the N-1 comparators and have an output coupled to one of the N-1 digital output terminals of the quantizer circuit (14).
(FR)
L'invention concerne un circuit quantificateur multiniveaux, qui présente une borne d'entrée analogique et N-1 bornes de sortie numérique, et comprend un circuit d'échantillonnage couplé à la borne d'entrée pour émettre un signal de tension d'entrée échantillonné; au moins un étage de préamplification pour convertir le signal de tension d'entrée échantillonné en un signal de courant et fournir un signal d'entrée échantillonné amplifié; et N-1 étages comparateurs, chaque étage ayant une entrée couplée à une sortie de l'étage de préamplification et partageant équitablement le courant d'entrée. Des étages individuels des N-1 étages comparateurs fonctionnent pour comparer le signal échantillonné amplifié avec un signal associé parmi les N-1 signaux de référence. Le quantificateur comprend en outre N-1 verrous dont certains verrouillent un état de sortie d'un des N-1 comparateurs, et présente une sortie couplée à l'une des N-1 bornes de sortie numérique du circuit quantificateur. Cetrtains des N-1 comparateurs sont construits au moyen de plusieurs transistors configurés avec des portes communes afin de supprimer une rétroaction de bruit à partir des N-1 verrous vers d'autres comparateurs et vers la borne d'entrée du circuit quantificateur. Dans une forme de réalisation, l'utilisation d'un étage de préamplification sert également à réduire la capacité d'entrée du quantificateur, ce qui diminue la charge capacitive reconnue par l'amplificateur de sortie, qui peut être un intégrateur, du filtre à boucle. Le quantificateur comprend en outre un générateur de signal de vibration qui présente une sortie couplée à la sortie de l'étage de préamplification, et un générateur de signal de seuil qui émet les N-1 signaux de référence. Le générateur de signal de seuil peut être simplement constitué au moyen d'un chapelet de résistances connectées entre des tensions de référence positive et négative. Un transconducteur alimentant des miroirs de courant mis à l'échelle peut également être employé.
Également publié en tant que
RU2003112617
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