Traitement en cours

Veuillez attendre...

Paramétrages

Paramétrages

1. WO2003001167 - PROCEDE ET APPAREIL DE MESURE DE TEMPERATURE

Numéro de publication WO/2003/001167
Date de publication 03.01.2003
N° de la demande internationale PCT/IL2002/000482
Date du dépôt international 19.06.2002
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 21.01.2003
CIB
G01K 7/34 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
KMESURE DES TEMPÉRATURES; MESURE DES QUANTITÉS DE CHALEUR; ÉLÉMENTS THERMOSENSIBLES NON PRÉVUS AILLEURS
7Mesure de la température basée sur l'utilisation d'éléments électriques ou magnétiques directement sensibles à la chaleur
34utilisant des éléments capacitifs
G01K 13/00 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
KMESURE DES TEMPÉRATURES; MESURE DES QUANTITÉS DE CHALEUR; ÉLÉMENTS THERMOSENSIBLES NON PRÉVUS AILLEURS
13Adaptations de thermomètres à des buts spécifiques
CPC
G01K 13/002
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
KMEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
13Adaptations of thermometers for specific purposes
002for measuring body temperature
G01K 7/343
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
KMEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
7Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat
34using capacitative elements
343the dielectric constant of which is temperature dependant
Déposants
  • GLUCON INC. [US/US]; 1013 Centre Road Wilmington, DE 19805, US (AllExceptUS)
  • PESACH, Benny [IL/IL]; IL (UsOnly)
Inventeurs
  • PESACH, Benny; IL
Mandataires
  • FENSTER, Paul ; Fenster & Company, Intellectual Property 2002 LTD. P.O. Box 10256 49002 Petach Tikva, IL
Données relatives à la priorité
14390421.06.2001IL
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) PERMITTIVITY BASED TEMPERATURE MEASUREMENT AND RELATED METHODS
(FR) PROCEDE ET APPAREIL DE MESURE DE TEMPERATURE
Abrégé
(EN)
A method for determining temperature of a material (32) comprising: measuring at least one of the real and imaginary part of the permittivity of the material (32) at each of at least one frequency (36) for which substantially only a single component of the material contributes to the dielectric permittivity of the material (32), for which known component the permittivity as a function of temperature is known; and using at least one of the determined real and imaginary part of the permittivity at each of the at least one frequency and the dependence of the permittivity of the known component on temperature to determine temperature of the known component and thereby of the material (32).
(FR)
L'invention concerne un procédé permettant de déterminer la température d'un matériau. Ce procédé consiste: à mesurer au moins soit la partie réelle soit la partie imaginaire de la permittivité du matériau sur chacune des fréquences au moins pour lesquelles sensiblement un seul composant connu du matériau contribue à la permittivité diélectrique de ce matériau, composant pour lequel la permittivité en tant que fonction de température est connue; et à utiliser au moins soit la partie déterminée réelle soit la partie déterminée imaginaire de cette permittivité, sur chacune des fréquences au moins, ainsi que la dépendance de la permittivité du composant connu à la température, de sorte à déterminer la température du composant connu et ainsi, celle du matériau.
Également publié en tant que
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international