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1. (WO2002090954) APPAREIL ET PROCEDE DE MESURE D'UNE COMPOSITION
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2002/090954    N° de la demande internationale :    PCT/AU2002/000572
Date de publication : 14.11.2002 Date de dépôt international : 08.05.2002
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    09.12.2002    
CIB :
G01N 23/203 (2006.01)
Déposants : COMMONWEALTH SCIENTIFIC AND INDUSTRIAL RESEARCH ORGANISATION [AU/AU]; Limestone Avenue, Cambell, Australian Capital Territory 2612 (AU) (Tous Sauf US).
TICKNER, James [AU/AU]; (AU) (US Seulement)
Inventeurs : TICKNER, James; (AU)
Mandataire : GRIFFITH HACK; LEVEL 3, 509 ST KILDA ROAD, MELBOURNE, Victoria 3004 (AU)
Données relatives à la priorité :
PR 4853 09.05.2001 AU
Titre (EN) APPARATUS AND METHOD FOR COMPOSITION MEASUREMENT
(FR) APPAREIL ET PROCEDE DE MESURE D'UNE COMPOSITION
Abrégé : front page image
(EN)Apparatus for obtaining information about the composition of a material comprised predominantly of low atomic number elements, the apparatus including a source (S) of X- or gamma-ray photons that is so located with respect to the material to be examined that at least some of the photons impinge on the material, a detector (D) capable of measuring the energy of X- or gamma-rays scattered from the material being examined, shielding means (C) for preventing source photons from reaching the detector directly, and analysis means for determining information about the composition of the material from the shape of the energy spectrum of photons inelastically scattered from the target material.
(FR)L'invention porte sur un appareil permettant d'obtenir des informations sur la composition d'un matériau comprenant principalement des éléments de numéro atomique faible. L'appareil comprend une source (S) de photons gamma ou rayons X placée en face du matériau à examiner de sorte qu'au moins un des photons heurte le matériau ; un détecteur (D) capable de mesurer l'énergie des rayons X ou gamma dispersés dans le matériau à examiner, un dispositif de blindage (C) destiné à empêcher les photons émanant de la source d'atteindre directement le détecteur, et un analyseur permettant de déterminer des informations sur la composition du matériau à partir de la forme du spectre d'énergie des photons dispersés de manière inélastique dans le matériau cible.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, OM, PH, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)