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1. (WO2002083078) PROCEDE PERMETTANT DE DETERMINER UNE REFRACTION CLINIQUE D'UN OEIL A PARTIR D'UNE SOURCE OBJECTIVE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2002/083078    N° de la demande internationale :    PCT/US2002/012141
Date de publication : 24.10.2002 Date de dépôt international : 16.04.2002
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    12.11.2002    
CIB :
A61B 3/107 (2006.01)
Déposants : TRACEY TECHNOLOGIES, LLC [US/US]; 16720 Hedgecroft, Suite 208, Houston, TX 77060 (US) (Tous Sauf US).
WAKIL, Youssef [US/US]; (US) (US Seulement).
MOLEBNY, Vasyl [UA/UA]; (UA) (US Seulement).
MOLEBNY, Sergiy [UA/UA]; (UA) (US Seulement).
PALLIKARIS, Ioannis [GR/GR]; (GR) (US Seulement)
Inventeurs : WAKIL, Youssef; (US).
MOLEBNY, Vasyl; (UA).
MOLEBNY, Sergiy; (UA).
PALLIKARIS, Ioannis; (GR)
Mandataire : MONTGOMERY, John, W.; Haynes and Boone, LLP, 1000 Louisiana, Suite 4300, Houston, TX 77002 (US)
Données relatives à la priorité :
60/284,364 16.04.2001 US
Titre (EN) DETERMINING CLINICAL REFRACTION OF EYE
(FR) PROCEDE PERMETTANT DE DETERMINER UNE REFRACTION CLINIQUE D'UN OEIL A PARTIR D'UNE SOURCE OBJECTIVE
Abrégé : front page image
(EN)A method of measuring eye refraction to achieve desired quality according to a selected vision characteristics comprising the steps of selecting a characteristic of vision to correlate to the desired quality of vision from a group of vision characteristics comprising acuity, Strehl ratio, contrast sensitivity, night vision, day vision, and depth of focus. dynamic refraction over a period of time during focus accommodation, and dynamic refraction over a period of time during pupil constriction and dilation; using wavefront aberration measurements to objectively measure the state of the eye refraction that defines the desired vision characteristic; and expressing the measured state of refraction with a mathematical function to enable correction of the pre-selected vision characteristic to achieve the desired quality of vision. The mathematical function of expression may be a Zernike polynomial having both second order and higher order terms or a function determined by spline mathematical calculations. The pre-selected desired vision characteristics may be determined using ray tracing technology.
(FR)L'invention concerne un procédé de mesure de la réfraction oculaire permettant d'obtenir une qualité souhaitée conformément à une caractéristique de vision sélectionnée. Ce procédé comprend les étapes consistant à sélectionner une caractéristique de vision, de manière à établir une corrélation avec la qualité souhaitée de vision, à partir d'un groupe de caractéristiques de vision, notamment l'acuité, le rapport de Strehl, la sensibilité au contraste, la vision de nuit, la vision diurne, la profondeur de foyer, la réfraction dynamique pendant un laps de temps lors de l'accommodation du foyer et la réfraction dynamique pendant un laps de temps lors de la constriction et de la dilatation de la pupille; à utiliser des mesures d'aberration de front d'ondes, de manière à mesurer de façon objective l'état de la réfraction oculaire définissant la caractéristique de vision souhaitée; et à exprimer l'état mesuré de la réfraction au moyen d'une fonction mathématique permettant de corriger la caractéristique de vision présélectionnée, afin d'obtenir la qualité souhaitée de vision. La fonction mathématique d'expression peut être un polynôme de Zernike possédant aussi bien des termes du second ordre que des termes d'ordre supérieur ou une fonction déterminée par des calculs mathématiques de fonction spline. Les caractéristiques de vision souhaitées présélectionnées peuvent être déterminées au moyen d'une technologie de traçage de rayon.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, PH, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VN, YU, ZA, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)