WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2002023724) RESEAU LOGIQUE PROGRAMMABLE, DYNAMIQUE ET POUVANT ETRE REPARE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2002/023724    N° de la demande internationale :    PCT/US2001/027427
Date de publication : 21.03.2002 Date de dépôt international : 04.09.2001
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    09.04.2002    
CIB :
H03K 19/177 (2006.01)
Déposants : ELAN RESEARCH, INC. [US/US]; 2672 Bayshore Parkway, Suite 404, Mountain View, CA 94043 (US)
Inventeurs : SONG, Seungyoon, P.; (US)
Mandataire : SAWYER, Joseph, A., Jr.; Sawyer Law Group LLP, P.O. Box 51418, Palo Alto, CA 94303 (US)
Données relatives à la priorité :
09/661,137 13.09.2000 US
Titre (EN) REPAIRABLE DYNAMIC PROGRAMMABLE LOGIC ARRAY
(FR) RESEAU LOGIQUE PROGRAMMABLE, DYNAMIQUE ET POUVANT ETRE REPARE
Abrégé : front page image
(EN)A repairable dynamic programmable logic array (DPLA) is disclosed. The repairable DPLA comprises of AND (10') or OR (14') logic planes and redundant term generators in the logic planes. For repairing a defective AND term generator, a redundant output select module connected to the output of the redundant AND term generator (13) is added to each of the OR term generators, including the redundant OR term generators. To repair a defective AND term generator, the wired-NOR function programmed into the defective AND term generator is programmed into the redundant AND term generator. The redundant output select module is programmed to be affected by the redundant AND term output if the associated OR term generator is programmed to be affected by the defective AND term generator. The defective AND term generator is disabled by not enabling its discharge transistor. For repairing a defective OR term generator, an output replacement module is added between the OR term generator outputs and the PLA outputs. To repair a defective OR term generator, the wired-NOR function programmed into the defective OR term generator is programmed into the redundant OR term generator (15).
(FR)L'invention concerne un réseau logique programmable, dynamique et pouvant être réparé. Celui-ci comprend des plans logiques ET (10') et OU (14') et des générateurs redondants de termes situés dans les plans logiques. Un module redondant de sélection de sorties relié à la sortie du générateur redondant de termes ET (13) est ajouté à chaque générateur de termes OU, notamment les générateurs redondants de termes OU, en vue de réparer un générateur défectueux de termes ET. La fonction NON-OU câblée et programmée dans le générateur défectueux de termes ET est programmée dans le générateur redondant de termes ET, en vue de réparer un générateur défectueux de termes ET. Le module redondant de sélection de sorties est programmé de manière à être touché par la sortie redondante de termes ET, si le générateur de termes OU associé est programmé de manière à être touché par le générateur défectueux de termes ET. Celui-ci est désactivé par l'activation de son transistor de décharge. Un module de remplacement de sorties est placé entre les sorties du générateur de termes OU et les sorties du réseau logique programmable, en vue de réparer un générateur défectueux de termes OU. La fonction NON-OU câblée et programmée dans le générateur défectueux de termes OU est programmée dans le générateur redondant de termes OU (15), en vue de réparer le générateur défectueux de termes OU.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, PH, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VN, YU, ZA, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)