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1. (WO2002019530) ETALONNAGE D'UN CONVERTISSEUR A/N
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2002/019530    N° de la demande internationale :    PCT/SE2001/001802
Date de publication : 07.03.2002 Date de dépôt international : 24.08.2001
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    20.03.2002    
CIB :
H03M 1/10 (2006.01), H03M 1/12 (2006.01)
Déposants : TELEFONAKTIEBOLAGET LM ERICSSON [SE/SE]; S-126 25 Stockholm (SE) (Tous Sauf US).
JONSSON, Bengt, Erik [SE/SE]; (SE) (US Seulement)
Inventeurs : JONSSON, Bengt, Erik; (SE)
Mandataire : HEDBERG, Åke; Aros Patent AB P.O. Box 1544 S-751 45 Uppsala (SE)
Données relatives à la priorité :
0003043-7 29.08.2000 SE
0102078-3 12.06.2001 SE
Titre (EN) A/D CONVERTER CALIBRATION
(FR) ETALONNAGE D'UN CONVERTISSEUR A/N
Abrégé : front page image
(EN)An A/D converter calibration apparatus of the 'skip-and-fill' type includes a set of operating condition parameter sensors (100) for detecting the current operating conditions, which are represented by parameters x1,..., xN. The measured parameter are forwarded to an operating conditions change detector (102), which calculates a change measure and determines whether this measure exceeds or falls below a predetermined change threshold. A calibration control signal CTRL_SKP_RT is passed to a calibration control unit (104), which sets the background calibration skip rate to a high value if the measure exceeds the threshold an to a low value if it does not exceed the threshold.
(FR)L'invention concerne un appareil d'étalonnage de convertisseur A/N du type 'sauter-et-remplir' qui comprend un ensemble de capteurs (100) de paramètres d'état de fonctionnement permettant de détecter les états de fonctionnement du courant, représentés par les paramètres X1, , XN. Les paramètres mesurés sont envoyés à un détecteur (102) de changement d'état de fonctionnement, qui calcule une mesure de changement et détermine si ladite mesure est supérieure ou inférieure à un seuil de changement prédéterminé. Un signal de commande d'étalonnage CTRL_SKP_RT est envoyé à une unité de commande d'étalonnage (104), qui fixe la vitesse de saut d'étalonnage d'arrière-plan à une valeur élevée dans le cas où la mesure est supérieure au seuil, et à une valeur inférieure si ladite mesure ne dépasse pas ledit seuil.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, PH, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VN, YU, ZA, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)