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1. WO2001079865 - CARTE DE TEST ET ELEMENT DE TEST DESTINE A ETRE UTILISE DANS CETTE DERNIERE

Numéro de publication WO/2001/079865
Date de publication 25.10.2001
N° de la demande internationale PCT/JP2001/000208
Date du dépôt international 15.01.2001
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 06.09.2001
CIB
G01R 1/067 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
1Détails ou dispositions des appareils des types couverts par les groupes G01R5/-G01R13/125
02Éléments structurels généraux
06Conducteurs de mesure; Sondes de mesure
067Sondes de mesure
CPC
G01R 1/06738
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
1Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
02General constructional details
06Measuring leads; Measuring probes
067Measuring probes
06711Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
06733Geometry aspects
06738related to tip portion
Déposants
  • INNOTECH CORPORATION [JP]/[JP] (AllExceptUS)
  • YOSHIDA, Minoru [JP]/[JP] (UsOnly)
  • OHASHI, Seiichi [JP]/[JP] (UsOnly)
Inventeurs
  • YOSHIDA, Minoru
  • OHASHI, Seiichi
Mandataires
  • FUKAMI, Hisao
Données relatives à la priorité
2000-11226813.04.2000JP
2000-22060321.07.2000JP
Langue de publication japonais (JA)
Langue de dépôt japonais (JA)
États désignés
Titre
(EN) PROBE CARD DEVICE AND PROBE FOR USE THEREIN
(FR) CARTE DE TEST ET ELEMENT DE TEST DESTINE A ETRE UTILISE DANS CETTE DERNIERE
Abrégé
(EN)
A probe (1A) is provided with an edge part (2) at the end of the probe (1A) to be brought into contact with a pad electrode (5). The edge part (2) has a blade edge (2a) in one plane parallel with the direction in which the edge part (2) slides on the pad electrode (5) while being in contact with the pad electrode. The blade edge (2a) has a shape that it is nearer to the pad electrode (5) from the front toward the rear in the direction where the edge part (2) slides on the pad electrode (5). Since the edge blade (2a) cuts into an insulation film (7) formed on the pad electrode (5), good electrical connection between the probe (1A) and the pad electrode (5) is ensured, thus providing a probe card device.
(FR)
Un élément de test (1A) est pourvu d'une partie (2) de tranche située à l'extrémité de l'élément de test (1A) devant être mise en contact avec une électrode (5) en forme de pastille. La partie (2) de tranche comporte une arête (2a) située dans un plan qui est parallèle au sens de glissement de la partie (2) de tranche sur l'électrode (5) en forme de pastille alors qu'elle se trouve en contact avec l'électrode en forme de pastille. L'arête (2a) a une forme qui est proche de celle de l'électrode (5) en forme de pastille depuis l'avant jusqu'à l'arrière dans le sens de glissement de la partie (2) de tranche sur l'électrode (5) en forme de pastille. Etant donné que l'arête (2a) coupe et pénètre dans un film isolant (7) formé sur l'électrode (5) en forme de pastille, ceci assure une bonne connexion électrique entre l'élément de test (1A) et l'électrode (5) en forme de pastille et constitue ainsi une carte de test.
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