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1. WO2001073404 - PROCEDE DE DETERMINATION DE L'INDICE DE REFRACTION

Numéro de publication WO/2001/073404
Date de publication 04.10.2001
N° de la demande internationale PCT/EP2001/003386
Date du dépôt international 24.03.2001
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 26.09.2001
CIB
G01N 21/41 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
17Systèmes dans lesquels la lumière incidente est modifiée suivant les propriétés du matériau examiné
41Réfringence; Propriétés liées à la phase, p.ex. longueur du chemin optique
G01N 21/47 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
17Systèmes dans lesquels la lumière incidente est modifiée suivant les propriétés du matériau examiné
47Dispersion, c. à d. réflexion diffuse
CPC
G01N 21/41
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible or ultra-violet light
17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
41Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length
G01N 21/4788
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible or ultra-violet light
17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
47Scattering, i.e. diffuse reflection
4788Diffraction
Déposants
  • DEUTSCHE TELEKOM AG [DE]/[DE] (AllExceptUS)
  • KOOPS, Hans, W., P. [DE]/[DE] (UsOnly)
  • LEMINGER, Ottokar [DE]/[DE] (UsOnly)
  • KAYA, Alexander [DE]/[DE] (UsOnly)
Inventeurs
  • KOOPS, Hans, W., P.
  • LEMINGER, Ottokar
  • KAYA, Alexander
Représentant commun
  • BLUMBACH KRAMER & PARTNER GBR
Données relatives à la priorité
100 14 816.627.03.2000DE
Langue de publication allemand (DE)
Langue de dépôt allemand (DE)
États désignés
Titre
(DE) VERFAHREN ZUR BRECHZAHLBESTIMMUNG
(EN) METHOD FOR DETERMINING AN INDEX OF REFRACTION
(FR) PROCEDE DE DETERMINATION DE L'INDICE DE REFRACTION
Abrégé
(DE)
Beim erfindungsgemäßen Verfahren wird zunächst die Materie, für die die Brechzahl bestimmt werden soll, in Form einer theoretisch erfassbaren Streuanordnung bzw. Beugungsanordnung bereitgestellt. Anschließend werden zwei oder mehrere Beugungsordnungen zum Bilden wenigstens eines Itensitätsverhältnisses festgelegt. Indem die Streuanordnung mit einem Lichtstrahl definierter Form bestrahlt wird, wird wenigstens eine Intensitätsverteilung erzeugt. Im Anschluss wird unter Verwendung der Beugungsordnungen der Intensitätsverteilung das Intensitätsverhältnis gebildet. Ferner wird zumindest ein Teil einer Kennkurve bestimmt, die die Abhängigkeit des Intensitätsverhältnisses von der Brechzahl wiedergibt und mit deren Hilfe dem gebildeten Intensitätsverhältnis die zugehörige Brechzahl zugeordnet werden kann.
(EN)
According to the inventive method, the substance for which the index of refraction is to be determined is first prepared in the form of a theoretically determinable scattering arrangement or diffraction arrangement. Two or more diffraction orders are then established for the purpose of producing at least one intensity ratio. At least one intensity distribution is produced by irradiating the scattering arrangement with a light beam with a defined shape. The intensity ratio is then produced using the diffraction orders of the intensity distribution. At least part of a characteristic curve which represents the dependency of the intensity ratio on the index of refraction and which can be used to allocate the corresponding index of refraction to the intensity ratio that is produced is also determined.
(FR)
L'invention concerne un procédé de détermination de l'indice de réfraction consistant dans un premier temps à mettre en oeuvre le matériau dont l'indice de réfraction doit être déterminé sous la forme d'un réseau de diffusion ou d'un réseau de diffraction pouvant être mesuré théoriquement. Ensuite, au moins deux ordres de diffraction sont fixés de manière à créer au moins un rapport d'intensité. L'application d'un rayonnement lumineux de forme définie sur le réseau de diffusion permet de créer au moins une répartition d'intensité. L'utilisation des ordres de diffraction de la répartition d'intensité permet de former le rapport d'intensité. Par ailleurs, le procédé selon l'invention consiste à déterminer au moins une partie d'une caractéristique donnant la relation entre le rapport d'intensité et l'indice de réfraction, et permettant d'attribuer l'indice de réfraction correspondant au rapport d'intensité créé.
Également publié en tant que
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