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1. (WO2001014893) AIGUILLE DE TEST POUR ADAPTATEUR DE QUADRILLAGE D'UN DISPOSITIF SERVANT A TESTER DES CARTES DE CIRCUITS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2001/014893    N° de la demande internationale :    PCT/EP2000/007793
Date de publication : 01.03.2001 Date de dépôt international : 10.08.2000
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    22.02.2001    
CIB :
G01R 1/067 (2006.01), H01R 11/18 (2006.01), H01R 13/22 (2006.01)
Déposants : ATG TEST SYSTEMS GMBH & CO. KG [DE/DE]; Reicholzheim Zum Schlag 3 97877 Wertheim (DE) (Tous Sauf US).
PROKOPP, Manfred [DE/DE]; (DE) (US Seulement).
OTT, Bernd [DE/DE]; (DE) (US Seulement)
Inventeurs : PROKOPP, Manfred; (DE).
OTT, Bernd; (DE)
Mandataire : GANAHL, Bernhard; Reinhardt Söllner Ganahl, Hausen 5b, 85551 Kirchheim b. München (DE)
Données relatives à la priorité :
199 39 955.7 23.08.1999 DE
Titre (DE) PRÜFNADEL FÜR EINEN RASTERANPASSUNGSADAPTER EINER VORRICHTUNG ZUM TESTEN VON LEITERPLATTEN
(EN) TEST NEEDLE FOR A RASTER-MATCHING ADAPTER AND A DEVICE FOR TESTING PRINTED CIRCUIT BOARDS
(FR) AIGUILLE DE TEST POUR ADAPTATEUR DE QUADRILLAGE D'UN DISPOSITIF SERVANT A TESTER DES CARTES DE CIRCUITS
Abrégé : front page image
(DE)Die Erfindung betrifft eine Prüfnadel für einen Rasteranpassungsadapter einer Vorrichtung zum Testen von Leiterplatten. Die erfindungsgemäße Prüfnadel zeichnet sich dadurch aus, daß die Nadel einen sich zu einer freien Kontaktspitze der Nadel konisch verjüngend ausgebildeten Kontaktbereich zum Kontaktieren eines Leiterplattentestpunktes aufweist. Der Kontaktbereich besitzt eine Länge von zumindest 15 mm und die Prüfnadel besitzt an der Kontaktspitze einen Durchmesser von kleiner oder gleich 0,2 mm. Ein der Kontaktspitze gegenüberliegender Endabschnitt des Kontaktbereichs ist zumindest um 0,1 mm größer als der Durchmesser an der Kontaktspitze. Mit der erfindungsgemäßen Nadel können engste Strukturen auf Leiterplatten abgetastet werden. Die erfindungsgemäße Nadel ist steifer als bekannte Nadeln zum Abtasten vergleichbarer Strukturen. Hierdurch vereinfacht sich deren Handhabung und der Aufbau eines Rasteranpassungsadapters, in dem die Prüfnadeln eingesetzt werden.
(EN)The invention relates to a test needle for a raster-matching adapter of a device for testing printed circuit boards. Said test needle is characterised in that the needle has a contact area which tapers conically to form a free contact tip of said needle for contacting a circuit-board test point. The contact area is at least 15 mm long and the diameter of the test needle at the tip is less than or equal to 0.2 mm. An end section of the contact area which lies opposite the contact tip is has a diameter which is at least 0.1 mm larger than the diameter at the contact tip. The inventive needle can be used to scan the narrowest structures on printed circuit boards. The needle is more rigid than known needles for scanning comparable structures. This simplifies both its handling and the construction of a raster-matching adapter, in which the test needles are used.
(FR)L'invention concerne une aiguille de test pour un adaptateur de quadrillage d'un dispositif servant à tester des cartes de circuits. Cette aiguille de test est caractérisée en ce qu'elle présente une zone de contact se rétrécissant de manière conique pour former une pointe de contact dégagée, servant à établir un contact avec un point de test de la carte de circuits. Cette zone de contact présente une longueur d'au moins 15 mm et l'aiguille de test possède, au niveau de la pointe de contact, un diamètre inférieur ou égal à 0,2 mm. Une partie terminale, opposée à la pointe de contact, de la zone de contact présente un diamètre supérieur d'au moins 0,1 mm à celui de la pointe de contact. Cette aiguille permet d'explorer des structures extrêmement étroites sur des cartes de circuits. Elle est plus rigide que les aiguilles connues servant à explorer des structures comparables. Ceci permet de faciliter sa manipulation et de simplifier la conception d'un adaptateur de quadrillage dans lequel les aiguilles de test selon l'invention sont utilisées.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VN, YU, ZA, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : allemand (DE)
Langue de dépôt : allemand (DE)