WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2000055863) PROCEDE ET DISPOSITIF POUR AUTO-CONTROLE INTEGRE D'UN CIRCUIT ELECTRONIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2000/055863    N° de la demande internationale :    PCT/DE2000/000775
Date de publication : 21.09.2000 Date de dépôt international : 13.03.2000
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    07.08.2000    
CIB :
G01R 31/3185 (2006.01), G11C 29/36 (2006.01), G11C 29/40 (2006.01)
Déposants : INFINEON TECHNOLOGIES AG [DE/DE]; St.-Martin-Strasse 53, D-81541 München (DE) (Tous Sauf US).
KNIFFLER, Oliver [DE/DE]; (DE) (US Seulement).
DIRSCHERL, Gerd [DE/DE]; (DE) (US Seulement)
Inventeurs : KNIFFLER, Oliver; (DE).
DIRSCHERL, Gerd; (DE)
Mandataire : EPPING - HERMANN & FISCHER; Postfach 12 10 26, 80034 Münchnen (DE)
Données relatives à la priorité :
199 11 939.2 17.03.1999 DE
Titre (DE) VORRICHTUNG UND VERFAHREN FÜR DEN EINGEBAUTEN SELBSTTEST EINER ELEKTRONISCHEN SCHALTUNG
(EN) DEVICE AND METHOD FOR CARRYING OUT THE BUILT-IN SELF-TEST OF AN ELECTRONIC CIRCUIT
(FR) PROCEDE ET DISPOSITIF POUR AUTO-CONTROLE INTEGRE D'UN CIRCUIT ELECTRONIQUE
Abrégé : front page image
(DE)Vorrichtung und Verfahren für den eingebauten Selbsttest einer elektronischen Schaltung, welche sowohl kombinatorische Logik (10) als auch Speicher (12) enthält, wobei eine gemeinsame Selbsttestschaltung für Logik (10) und Speicher (12) vorgesehen ist und der Selbsttest von Logik und Speicher gleichzeitig erfolgt.
(EN)The invention relates to a device and method for carrying out the built-in self-test of an electronic circuit which contains both a combinatorial logic unit (10) as well as a memory (12), whereby a common self-test circuit is provided for the logic unit (10) and memory (12) and the self-test is simultaneously carried out by the logic unit and memory.
(FR)L'invention concerne un procédé et un dispositif pour effectuer l'auto-contrôle intégré d'un circuit électronique, comprenant aussi bien une logique combinatoire (10) qu'une mémoire (12). Il est prévu un circuit d'auto-contrôle commun pour la logique (10) et la mémoire (12) et l'auto-contrôle est effectué simultanément par la logique et la mémoire.
États désignés : BR, CN, IN, JP, KR, MX, RU, UA, US.
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE).
Langue de publication : allemand (DE)
Langue de dépôt : allemand (DE)